• Keine Ergebnisse gefunden

Lösungen: Übungsblatt 6 zur Quantenelektronik I

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2021

Aktie "Lösungen: Übungsblatt 6 zur Quantenelektronik I "

Copied!
4
0
0

Wird geladen.... (Jetzt Volltext ansehen)

Volltext

(1)

Prof. Dr. U. Keller SS 2007

Lösungen: Übungsblatt 6 zur Quantenelektronik I

Aufgabe 1 Interferenz nichtkollinearer Wellen unterschiedlicher Frequenz

a) Die elektrischen Felder schreiben wir als E1(

r,t)=A1ei1t

k1r+1

( ) und E2(

r,t)=A2ei2t

k2r+2

( ) mit (nach Wahl des obigen Koordinatensystems) k1=k1

sin cos

0

(k1 =1

c ), k2 =k2 sin cos 0

(k2 =2

c ) und r= x y z

.

Somit ist das Interferenzmuster gegeben durch I = 1

2Z E1+E2 2 = 1

2Z

(

E1+E2

) (

E1*+E2*

)

= 1

2Z A1ei1t

k1r+1

( ) +A2ei2t

k2r+2

( )

( ) (

A1ei(1tk1r+1) +A2ei(2tk2r+2)

)

= 1

2Z A12+A22+2A1A2cos (12)t+ k2

k1

( )

r+(12)

( )

( )

Die Intensitätsverteilung auf dem Schirm (y=0) ist damit Ix = 1

2Z

(

A12+A22+2A1A2cos (

(

12)t+sin

(

k2+k1

)

x+(12)

) )

und senkrecht dazu (x=0) Iy = 1

2Z

(

A12 +A22 +2A1A2cos (

(

12)t+cos

(

k2 k1

)

y+(12)

) )

.

b) Modulationsperiode: = 2

kx = 2 sin

(

k2 +k1

)

Das Interferenzmuster bewegt sich in der Zeit um eine Modulationsperiode, in der sich der Term (12)t um 2 verändert. Somit ist die Ausbreitungsgeschwindigkeit:

v=12

2

= 12

sin

(

k1+k2

)

=csin 1

(

1+22

)

.

c) Wie oben benutzen wir I = 1

2Z E1+E2 2 und erhalten durch Einsetzen:

I= 1 2Z A12e

2t1 vg k1 k1 r

2

+A22e

2t1 vg

k2 k2

r

2

+2A1A2e

t1 vg k1 k1 r

2

e

t1 vg k2 k2

r

2

cos (12)t+ k2

k1

( )

r+(12)

( )

(2)

Seite 2

und damit für die Intensitätsverteilung auf dem Schirm (y=0)

Ix= 1 2Z A12e

2 t+xsin vg

2

+A22e

2txsin

vg

2

+2A1A2e

t+xsin vg

2

e

txsin

vg

2

cos (

(

12)t+sin

(

k2+k1

)

x+(12)

)

Man sieht, dass in dem zeitlichen und örtlichen Bereich, in dem die beiden Gausspulse überlappen, zeitlich veränderliche Interferenzstreifen (wie in a)) auftreten. Das Verhältnis von A1 zu A2 bestimmt den maximalen Kontrast des Interferenzmusters. Der Winkel bestimmt die Modulationsperiode und mit der Verzögerung lässt sich das Auftreten der Interferenzen nicht nur zeitlich verändern, sondern das Muster verschiebt sich auch noch seitwärts auf dem Schirm. Sind die Frequenzen 1 und 2 unterschiedlich, so erscheinen die Streifen in einem "Intensität vs. Zeit"-Graphen gekippt.

Unten sind ein paar Beispiele zu sehen, die für folgende Parameter (falls nicht anders angegeben) gerechnet wurden: A1 =A2 =1, 1 =2 =0, 20 fs Pulsdauer, =0 fs,

vg =0.9c, 800 nm Zentralwellenlänge und =30°.

Parameter wie oben angegeben Zentralwellenlänge eines Pulses = 1200 nm

Zeitverzögerung =20 fs Einfallswinkel =15°

Hinweis: In einem Medium mit intensitätsabhängigem Brechungsindex kann ein solch vorübergehendes Interferenzmuster dazu verwendet werden, um mittels Beugung (siehe Kapitel 5) an der entstehenden Brechungsindexmodulation optische Signale mit

Femtosekunden Zeitauflösung zu schalten.

(3)

Seite 3

Aufgabe 2 Michelson-Interferometer a) Die komplexen Amplitudenbeiträge der

beiden Arme am Detektor sind E1= 1

2E0 e2ikL1 undE2 = 1

2E0 e2ikL2, wenn wir hier nicht interessierende Phasensprünge am Strahlteiler ignorieren. Die detektierte Leistung ist proportional zum Betragsquadrat der Summe der E-Felder. Damit ergibt sich

Pdet (1+cos 2k) (mit =L2 L1) oder genauerPdet = Plaser

2 (1+cos 2k

( )

)=Plasercos2

( )

k . Also kommen je nach Weg-

unterschied 0 % bis 100 % der Leistung am Detektor an; der Rest geht zurück zum Laser.

b) Wir modulieren die optische Weglängendifferenz, indem wir z. B. einen Spiegel auf einem vibrierenden Piezo montieren. (Alternativ könnten wir z. B. einen elektro- optischen Modulator in einem Arm installieren.) Die Amplitude der Vibration sei klein gegenüber einer Wellenlänge, damit das Interferenzmuster erhalten bleibt. Die Frequenz sei deutlich höher als die Frequenz der zu erwartenden Längenänderungen. Das Detektor- signal ist dannPdet(t)1+cos 2k

(

+asin(t)

)

. Für kleine Amplitude a erhalten wir durch Taylor-Entwicklung der Funktion cos(2k +x) in erster Ordnung um x=0

Pdet(t)1+cos 2k

( )

asin 2k

( )

sin(t) . Durch zeitliches Mitteln des Signals erhalten wircos 2k

( )

. Multiplizieren wir dagegen den oszillierenden Anteil elektronisch mit der ursprünglichen Modulation sin(t) und mitteln das Ergebnis, so erhalten wir eine Grösse proportional zuasin 2k

( )

. Da wir nun cos 2k

( )

und sin 2

( )

k kennen,

können wir daraus den Phasenwinkel 2k modulo 2 ermitteln. Auf diese Weise arbei- ten industrielle Interferometer, die bei einer beliebigen (nur nicht zu schnellen) Vor- und Zurückbewegung eines Maschinenteils die Position auf Bruchteile eines Mikrometers genau messen können.

Bem.: Es genügt nicht, einfach die Amplitude der Modulation zu messen (statt des Ver- fahrens mit der Multiplikation), da man so nur sin 2k

( )

erhalten würde.

c) Mit dem Verfahren aus Teil b) erhalten wir den Phasenwinkel nur modulo 2, weil das Detektorsignal periodisch ist. Verwendet man zwei Wellenlängen gleichzeitig und detek- tiert die Signale zu beiden Wellenlängen mit verschiedenen Detektoren (unter Verwen- dung geeigneter Filter), so kann man zwei Werte k1 und k2 mit zwei unterschiedlichen (bekannten) k-Werten messen. Daraus lässt sich dann eindeutig ermitteln, zumindest innerhalb eines gewissen Längenbereichs.

Aufgabe 3 "Phased-Array"-Antenne

a) In grossem Abstand von der Anlage haben wir am Empfänger von jeder einzelnen Antenne eine ebene Welle, und die Amplituden aller drei Beiträge sind etwa gleich, während die Phasen unterschiedlich sind. In Beobachtungsrichtung (Winkel , s.

Zeichnung) ist die Phase des Beitrags von der oberen Antenne gegenüber dem der mittleren Antenne um kdsin+t verschoben, während für die untere Antenne der ganze Term das gegensätzliche Vorzeichen gilt. Damit ist die Intensität proportional zu

1+exp

[

i(kdsin+t)

]

+exp

[

i(kdsin+t)

]

2 = 1+2 cos(kdsin+kct)2.

Laser

Detektor

1 2

(4)

Seite 4

b) Die cos-Funktion hat ein Maximum beim Argument 0, also fürdsin =ct, welches sich also offensichtlich durch Einstellung von t ändern lässt.

Ein kleiner Wert von d führt zu einer schwachen Winkelabhängigkeit. Ein sehr grosser Wert von d (mitkd>>1) ist aber ebenfalls ungünstig, weil dann viele Maxima auftreten.

Am besten ist also eine Wahl vonkd / 2, was gleichbedeutend ist mitd/ 4. Eine noch stärker gerichtete Abstrahlcharakteristik erreicht man durch Verwendung einer grösseren Anzahl von Einzelantennen.

c) In der Tat lässt sich dieses Prinzip auch für Empfänger verwenden: Man führt die Signale aller drei Antennen elektronisch zusammen, nachdem man jeder eine entsprechende Zeit- verzögerung aufgeprägt hat. Dadurch lässt sich die Empfindlichkeit für bestimmte Rich- tungen maximieren, ohne dass die Antenne bewegt wird.

Referenzen

ÄHNLICHE DOKUMENTE

a) Die Welle muss parallel zur Einfallsebene polarisiert sein (p-Polarisation). Nur für diese Polarisationsrichtung existiert der Brewsterwinkel. b) Fällt der Strahl in obiger

Für die Weisslicht- Interferometrie wird kein Ultrakurzpuls-Laser benötigt, sondern nur ein einfacher Erbium- Faserverstärker als breitbandige Lichtquelle (sogenannte ASE-Quelle, ASE

Treppenanordnung mit Phasenhüben von jeweils lassen sich so Gittereffizienzen von 95 % erreichen – dies allerdings begrenzt auf einen geringen Wellenlängenbereich. Damit kann

"spatial hole burning" (s. Die Schwebung zwischen den Moden führt zu Intensitätsfluktuationen, und zwar vor allem mit einer Frequenz, die dem Frequenzabstand der axialen

Diese Gleichung wird über die Dauer des Pulses integriert (d.h. Man beachte, dass die Näherung g << 1 notwendig ist, weil sonst nicht alle angeregten Atome im Lasermedium

(Die Empfindlichkeit erhöht sich linear in der Ordnung m des Plättchens. Denn umso dicker das Plättchen, umso länger können sich "Fehler" akkumulieren.) c) Wenn

b) Zwei sich anfangs überlappende Pulse mit Zentralwellenlängen von 820 nm bzw. Nach welcher Strecke sind die Puls-Maxima um 1 ps voneinander getrennt?.. c) Betrachten Sie nun

Aufgabe 2 Matrix-Methode für die Berechnung von Vielschichtsystemen Wir entwickeln eine Methode ("scattering matrix formalism") zur Berechnung der optischen Eigenschaften