*EP A2* EP A2 (19) (11) EP A2 (12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG. (43) Veröffentlichungstag: Patentblatt 2002/09

European Patent Office Office européen des brevets (19)

1 182 555 A2

*EP001182555A2*

(11)

EP 1 182 555 A2

(12)

EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(43) Veröffentlichungstag:

27.02.2002 Patentblatt 2002/09 (21) Anmeldenummer:01118167.4 (22) Anmeldetag:26.07.2001

(51) Int Cl.⁷:

G06F 11/26, G06F 11/267

(84) Benannte Vertragsstaaten:

AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR

Benannte Erstreckungsstaaten:

AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität:24.08.2000 DE 10041697 (71) Anmelder:Infineon Technologies AG

81669 München (DE)

(72) Erfinder:

• Arnold, Ralf 85586 Poing (DE)

• Kock, Ernst-Josef, Dr.

85614 Kirchseeon (DE)

• Klose, Thorsten 81737 München (DE)

(74) Vertreter:Jannig, Peter, Dipl.-Ing. et al

Jannig & Repkow, Patentanwälte, Klausenberg 20

86199 Augsburg (DE)

(54) Verfahren zum Testen einer programmgesteuerten Einheit durch eine externe Testvorrichtung

(57) Das beschriebene Verfahren zeichnet sich da- durch aus, daß die externe Testvorrichtung in der pro- grammgesteuerten Einheit ein das Testen der pro- grammgesteuerten Einheit veranlassendes, durchfüh- rendes oder unterstützendes Programm zur Ausfüh- rung bringt. Dadurch können programmgesteuerte Ein- heiten unter allen Umständen mit minimalem Aufwand schnell und zuverlässig getestet werden.

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Beschreibung

[0001] Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfah- ren gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1, d.

h. ein Verfahren zum Testen einer programmgesteuer- ten Einheit durch eine externe Testvorrichtung.

[0002] Programmgesteuerte Einheiten wie beispiels- weise Mikroprozessoren, Mikrocontroller und Signal- prozessoren, aber auch andere integrierte Schaltungen enthaltende Bausteine werden üblicherweise nach der Herstellung derselben getestet.

[0003] Das Anstoßen oder die Durchführung solcher Tests, und das Auswerten der dabei erhaltenen Tester- gebnisse erfolgt im allgemeinen durch eine externe Testvorrichtung.

[0004] Zum Testen einer programmgesteuerten Ein- heit durch eine externe Testvorrichtung existieren meh- rere Möglichkeiten.

[0005] Eine erste Möglichkeit besteht darin, daß die externe Testvorrichtung

- an die Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse des zu te- stenden Bausteins bestimmte Signale oder Signal- folgen anlegt, durch welche die im Baustein enthal- tene Schaltung oder bestimmte Teile derselben sti- muliert werden, und

- die sich als Reaktion hierauf an den Ein- und/oder Ausgabeanschlüssen einstellenden Verhältnisse registriert, mit festgelegten Soll-Reaktionen ver- gleicht, und abhängig vom Vergleichsergebnis fest- legt, ob der Baustein fehlerfrei ist oder nicht.

[0006] Ein solches Testverfahren weist eine ganze Reihe von Nachteilen auf.

[0007] Einer der Nachteile besteht darin, daß es schwierig ist, geeignete Signale oder Signalfolgen, durch die der zu testende Baustein stimuliert wird, und die Soll-Reaktionen hierauf zu ermitteln. Dies erfolgt im allgemeinen unter Verwendung eines Simulationspro- gramms, wobei aber zusätzlich berücksichtigt werden muß, daß sich auch Bausteine, die als fehlerfrei einzu- stufen sind, in gewissem Umfang unterschiedlich ver- halten, beispielsweise nicht exakt die selben Signallauf- zeiten aufweisen. Sowohl die Simulation des Baustein- Verhaltens als auch die Berücksichtigung zulässiger To- leranzen sind sehr kompliziert und aufwendig.

[0008] Ein weiterer Nachteil des oben genannten Testverfahrens besteht darin, daß die externen Testvor- richtungen mitunter nicht so schnell arbeiten können, um den Test bei der maximalen Betriebsfrequenz des zu testenden Bausteins durchführen zu können. Das heißt, daß in Kauf genommen werden muß, daß der Baustein, obgleich er als fehlerfrei eingestuft wurde, in der Praxis doch nicht fehlerfrei arbeitet.

[0009] Eine weitere Möglichkeit zum Testen einer pro- grammgesteuerten Einheit oder eines sonstigen Bau- steins durch eine externe Testvorrichtung besteht darin,

daß in den Baustein eine Selbsttestvorrichtung inte- griert wird, durch welche der Baustein einzelne, mehre- re oder alle Komponenten selbst testen kann. Solche Selbsttestvorrichtungen sind beispielsweise die soge- nannten Built-In-Self-Test- bzw. BIST-Module. Beim Vorhandensein eines BIST-Moduls im zu testenden Baustein kann sich die Aufgabe der externen Testvor- richtung zumindest teilweise auf ein Anstoßen des Tests durch das BIST-Modul und das Auswerten der vom BIST-Modul gelieferten Testergebnisse beschränken.

Durch BIST-Module können jedoch nur bestimmte Bau- steine oder Baustein-Komponenten wie beispielsweise Speicher-Module getestet werden, so daß zumindest bei programmgesteuerten Einheiten nach wie vor die Notwenigkeit besteht, von dem vorstehend beschriebe- nen ersten Testverfahren Gebrauch zu machen. Unab- hängig davon erfordert auch das Vorsehen von BIST-Modulen einen hohen Aufwand. Es handelt sich um eine zusätzlich Hardware-Komponente, durch die die damit ausgestatteten Bausteine größer werden und einen komplizierteren Aufbau aufweisen als Bausteine ohne BIST-Module. Darüber hinaus sind BIST-Module nicht flexibel einsetzbar: Veränderungen des vom BIST-Modul durchgeführten Tests oder Testablaufs können nur durch ein entsprechend verändertes BIST-Modul realisiert werden, was mit einem erhebli- chen Kosten- und Zeitaufwand verbunden ist.

[0010] Eine weitere Möglichkeit zum Testen einer pro- grammgesteuerten Einheit oder eines sonstigen Bau- steins durch eine externe Testvorrichtung besteht in der Durchführung eines sogenannten Scan-Tests. Scan- Tests ermöglichen jedoch keinen vollständigen Test; zu- sätzlich müssen einer oder mehrere der vorstehend er- wähnten Tests durchgeführt werden.

[0011] Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, das Verfahren gemäß dem Oberbe- griff des Patentanspruchs 1 derart weiterzubilden, daß sich die damit zu testenden programmgesteuerten Ein- heiten unter allen Umständen mit geringem Aufwand schnell und zuverlässig testen lassen.

[0012] Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch das im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 beanspruchte Merkmal gelöst.

[0013] Demnach zeichnet sich das erfindungsgemä- ße Verfahren dadurch aus, daß die externe Testvorrich- tung in der programmgesteuerten Einheit ein das Testen der programmgesteuerten Einheit veranlassendes, durchführendes oder unterstützendes Programm zur Ausführung bringt.

[0014] Dies erweist sich in mehrfacher Hinsicht als vorteilhaft. Insbesondere

- kann dadurch eine programmgesteuerte Einheit durch eine verhältnismäßig einfach aufgebaute ex- terne Testvorrichtung unter realen Bedingungen umfassend getestet werden,

- können dadurch ohne nennenswerten Aufwand

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zusätzliche oder veränderte Tests an der pro- grammgesteuerten Einheit vorgenommen werden, - kann dadurch eine programmgesteuerte Einheit problemlos durch verschiedene externe Testvor- richtungen getestet werden, und

- kann dadurch eine externe Testvorrichtung pro- blemlos zum Testen verschiedener programmge- steuerter Einheiten verwendet werden.

[0015] Durch das beanspruchte Verfahren können zu testende programmgesteuerte Einheiten unter allen Umständen mit geringem Aufwand schnell und zuver- lässig getestet werden.

[0016] Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind den Unteransprüchen, der folgenden Beschrei- bung und der Figur entnehmbar.

[0017] Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme auf die Figur näher erläutert. Die Figur zeigt einen möglichen Ablauf des Testens der programmgesteuerten Einheit durch das im folgenden beschriebene Verfahren.

[0018] Das im folgenden beschriebene Verfahren wird insbesondere eingesetzt, um programmgesteuerte Einheiten wie Mikroprozessoren, Mikrocontroller, Si- gnalprozessoren etc. vor oder unmittelbar nach deren Fertigstellung auf Fehlerfreiheit, genauer gesagt auf Hardware-Fehlerfreiheit zu überprüfen.

[0019] Der Test erfolgt üblicherweise, bevor die die programmgesteuerte Einheit bildende integrierte Schal- tung durch Integration in ein Gehäuse bzw. durch Um- gießen derselben mit einer ein Gehäuse bildenden Mas- se zum fertigen Bauteil weiterverarbeitet wird. Vorzugs- weise erfolgt der Test bereits zu einem Zeitpunkt, zu dem sich die zu testenden integrierten Schaltungen noch auf dem Wafer befinden, auf welchem sie herge- stellt wurden.

[0020] Das Verfahren kann aber auch am fertigen Endprodukt und zu beliebigen anderen Zeitpunkten, ja sogar bei bereits im Einsatz befindlichen programmge- steuerten Einheiten zum Einsatz kommen.

[0021] Das im folgenden beschriebene Verfahren wird als Software Implemented Self Test bzw. SIST be- zeichnet. Bei diesem Verfahren wird zwar nach wie vor eine externe Testvorrichtung verwendet, und diese ex- terne Testvorrichtung ist auch wie bisher über Nadeln oder sonstige Kontaktelemente mit ausgewählten oder allen Ein- und/oder Ausgabeanschlüssen (Pads oder Pins) der zu testenden programmgesteuerten Einheit verbunden, doch arbeitet diese externe Testvorrichtung anders als bisher verwendete externe Testvorrichtun- gen.

[0022] Das SIST-Verfahren zeichnet sich dadurch aus, daß die externe Testvorrichtung in der programm- gesteuerten Einheit ein das Testen der programmge- steuerten Einheit veranlassendes, durchführendes oder unterstützendes, im folgenden als Testprogramm be-

zeichnetes Programm zur Ausführung bringt.

[0023] Das von der programmgesteuerten Einheit auszuführende Testprogramm kann

- bereits bei der Herstellung der programmgesteu- erten Einheit in dieser eingestellt werden (beispiels- weise durch entsprechende Konfiguration eines in der programmgesteuerten Einheit enthaltenen ROM in diesem hinterlegt werden), oder

- von der externen Testvorrichtung über ein geeig- netes Lade-Interface, beispielsweise der soge- nannten JTAG-Schnittstelle in einen internen Pro- grammspeicher der programmgesteuerten Einheit geladen werden, wobei der Programmspeicher ent- weder eine spezieller Testprogrammspeicher oder der "normale" Programmspeicher sein kann, in wel- chem auch die Anwenderprogramme für den nor- malen Betrieb der programmgesteuerten Einheit gespeichert werden, und wobei der Programmspei- cher wahlweise ein flüchtiger Speicher (z.B. ein RAM) oder ein nichtflüchtiger Speicher (z.B. ein OTP-ROM, ein EPROM, ein EEPROM, oder ein Flash-Speicher) sein kann.

[0024] Für den Fall, daß das Testprogramm in einem nichtflüchtigen Speicher (ROM, OTP-ROM, EPROM, EEPROM, Flash-Speicher etc.) der programmgesteu- erten Einheit gespeichert ist, erweist es sich als vorteil- haft, wenn dieses bei der Ausführung mindestens ein in einem nichtflüchtigen Speicher gespeichertes Unter- programm aufruft oder aufrufen kann. Dies eröffnet die Möglichkeit, daß auch ein in einem nichtflüchtigen Spei- cher gespeichertes Testprogramm korrigiert, modifi- ziert, oder erweitert werden kann, und daß vorgenom- mene Korrekturen, Änderungen und Erweiterungen durch ein Umprogrammieren eines das Hauptpro- gramm oder andere Unterprogramme speichernden nichtflüchtigen Speichers der programmgesteuerten Einheit von dauerhafter Natur sind.

[0025] Das Testprogramm wird im betrachteten Bei- spiel dadurch zur Ausführung gebracht, daß die pro- grammgesteuerte Einheit nach der Schaffung der für die Testprogramm-Ausführung notwendigen Vorausset- zungen (beispielsweise nach dem Laden des Testpro- gramms in die programmgesteuerte Einheit und/oder nach dem Setzen des Instruction Pointers auf einen vor- bestimmten Wert, und/oder nach dem Mappen des das Testprogramm speichernden Speichers auf einen be- stimmten Adreß-Bereich) zurückgesetzt wird. Dabei ist darauf zu achten, daß durch das Zurücksetzen der pro- grammgesteuerten Einheit die zuvor für die Ausführung des Testprogramms getroffenen Vorbereitungen nicht rückgängig gemacht werden; gegebenenfalls muß ein spezieller (Test- )Rücksetzvorgang durchgeführt wer- den.

[0026] Was durch die Ausführung des Testpro- gramms bewirkt wird, hängt von dem Test ab, der durch das Testprogramm veranlaßt, durchgeführt oder unter-

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stützt werden soll.

[0027] Eine Möglichkeit besteht darin, daß das Test- programm die programmgesteuerte Einheit "nur" in ei- nen bestimmten Zustand versetzt, in welchem sie sich befinden muß, damit die externe Testvorrichtung be- stimmte Tests oder Messungen durchführen kann; eine weitere Möglichkeit besteht darin, daß das Testpro- gramm einen oder mehrere bestimmte Tests (beispiels- weise einen Speicher-Test) selbst durchführt oder ver- anlaßt.

[0028] Es ist zwar nicht zwingend erforderlich, doch erweist es sich als vorteilhaft, wenn das Testprogramm und die externe Testvorrichtung miteinander kommuni- zieren. Die Kommunikation erfolgt im betrachteten Bei- spiel

- über bestimmte Ein- und/oder Ausgabeanschlüs- se der programmgesteuerten Einheit, wobei diese Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse

- im normalen Betrieb der programmgesteuer- ten Einheit andere Funktionen innehabende Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse sind, also eine durch das Testprogramm definierte Schnittstelle darstellen und zumindest zu den Zeiten, zu welchen das Testprogramm zur Ent- gegennahme von Daten bereit ist, durch dieses wiederholt abgefragt werden, um zugeführte Daten entgegennehmen zu können, oder - auch im normalen Betrieb der programmge- steuerten Einheit eine Schnittstelle (beispiels- weise eine SSC-Schnittstelle) bildende Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse sind, oder - über von der externen Testvorrichtung beschreib- bare und/-oder auslesbare Register der programm- gesteuerten Einheit.

[0029] Die der programmgesteuerten Einheit zuge- führten Daten und/-oder die vom Programm ausgege- benen Daten werden vorzugsweise über mehrere inter- ne Taktzyklen der programmgesteuerten Einheit und/

oder der externen Testvorrichtung stabil gehalten. Da- durch können die Daten vom jeweiligen Empfänger auch dann sicher übernommen werden, wenn die inter- nen Takte der programmgesteuerten Einheit und der ex- ternen Testvorrichtung unterschiedliche Frequenzen und/oder unterschiedliche Phasenlagen aufweisen.

[0030] Die Kommunikation umfaßt

- eine Mitteilung des Testprogramms an die externe Testvorrichtung, daß es zur Entgegennahme von Daten bereit ist,

- die Zuführung von Daten von der externen Test- vorrichtung an das Testprogramm, wobei diese Da- ten

- den Ablauf des Testprogramms steuern und damit die vom Testprogramm auszuführenden, zu veranlassenden oder zu unterstützenden Tests und/oder Operationen festlegen, und/

oder

- bei der Ausführung, Veranlassung, oder Un- terstützung der durchzuführenden Tests oder Operationen zu berücksichtigende oder zu ver- wendende Daten sind, und

- Mitteilungen des Testprogramms an die externe Testvorrichtung über den Beginn, den Fortgang, das Ende, und/oder die Ergebnisse der jeweiligen Tests und Operationen.

[0031] Es kann auch vorgesehen werden, daß das Testprogramm auch Daten ausgibt, die als Eingangssi- gnale für eine eine Reparatur der programmgesteuerten Einheit durchführende Vorrichtung wie beispielsweise einen Laser Cutter oder eine sonstige Vorrichtung, durch welche fehlerhafte Teile der programmgesteuer- ten Einheit deaktivierbar und/oder redundante Teile ak- tivierbar sind, geeignet sind. Eine solche Reparaturvor- richtung kann an der programmgesteuerten Einheit an- geschlossen sein und die für sie bestimmten Daten wie die externe Testvorrichtung direkt von der programmge- steuerten Einheit erhalten ist; die Reparaturvorrichtung kann die zur Reparatur erforderlichen Informationen oder Anweisungen aber auch von der externen Testvor- richtung zugeführt bekommen.

[0032] Unabhängig davon kann vorgesehen werden, daß das Testprogramm bei Erkennen eines Fehlers wartet, bis die Reparaturvorrichtung versucht hat, den Fehler zu beheben, und dann überprüft, ob die Repara- tur erfolgreich war.

[0033] Ein praktisches Ausführungsbeispiel des vor- liegend betrachteten Verfahrens zum Testen einer pro- grammgesteuerten Einheit durch eine externe Testvor- richtung ist in Figur 1 veranschaulicht.

[0034] Der in der Figur 1 gezeigte Testvorgang be- ginnt damit, daß die externe Testvorrichtung das Test- programm oder Teile desselben in die programmge- steuerte Einheit lädt (Schritt S1).

[0035] Im nächsten Schritt (Schritt S2) wird die pro- grammgesteuerte Einheit durch Anlegen bestimmter Si- gnale an bestimmte Einund/oder Ausgabeanschlüsse in einen Zustand versetzt, in welchem sich die programm- gesteuerte Einheit befinden muß, um durch das Test- programm getestet werden zu können.

[0036] Danach wird die programmgesteuerte Einheit durch die externe Testvorrichtung zurückgesetzt, wor- aufhin (nach der Rücknahme des Rücksetzsignals) die programmgesteuerte Einheit mit der Ausführung des Testprogramms beginnt (Schritt S3).

[0037] Nach dem Rücksetzen der programmgesteu- erten Einheit wartet die externe Testvorrichtung auf eine Meldung des Testprogramms, daß dieses zur Entge-

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gennahme von Anweisungen durch die externe Testvor- richtung bereit ist (Schritt S4). Das durch das Rückset- zen der programmgesteuerten Einheit gestartete Test- programm initialisiert die programmgesteuerte Einheit zunächst und meldet sodann, daß es zur Entgegennah- me von Anweisungen durch die externe Testvorrichtung bereit ist. Diese Meldung besteht aus einem oder meh- rere Bits umfassenden Daten, welche das Testpro- gramm über in diesem selbst oder in Schritt S2 definier- te Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse der programmge- steuerten Einheit ausgibt; die externe Testvorrichtung überwacht die betreffenden Ein- und/oder Ausgabean- schlüsse der programmgesteuerten Einheit und über- prüft, ob durch die darüber ausgegebenen Daten die Bereitschaft des Testprogramms zur Entgegennahme von Daten signalisiert wird.

[0038] Sobald das Testprogramm zur Entgegennah- me von Anweisungen bereit ist, geht die Kontrolle des Testvorganges vollständig auf die externe Testvorrich- tung über: diese bestimmt fortan, welche Tests durch- zuführen sind, und wann und wie dies zu geschehen hat.

[0039] Wenn die externe Testvorrichtung feststellt, daß das Testprogramm zur Entgegennahme von Daten bereit ist, übermittelt sie an bestimmte Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse der programmgesteuerten Einheit für das Testprogramm bestimmte Daten (Schritt S5).

Diese Daten umfassen im betrachteten Beispiel Daten, durch die - über eine entsprechende Steuerung des Ab- laufs des Testprogramms - die Tests oder die Operatio- nen bestimmt werden, die das Testprogramm ausführen soll, und gegebenenfalls weitere Daten oder Parameter, unter Verwendung welcher der jeweilige Test oder die jeweilige Operation erfolgen soll. Die Tests bzw. die Operationen, die das Testprogramm ausführen kann, und zu deren Ausführung es von der externen Testvor- richtung angestoßen werden kann, sind im betrachteten Beispiel Tests von verschiedenen internen Speichern, der Test eines A/D-Wandlers, der Test eines CAN-Con- trollers, der Test eines Instruction Cache, und der Test des Power Management; die zusätzlichen Daten oder Parameter sind beispielsweise vom A/D-Wandler zu wandelnde Analog-Werte, oder Bit-Muster, unter Ver- wendung welcher ein Speicher-Test durchzuführen ist.

Es dürfte einleuchten, daß sich - sofern das Testpro- gramm hierzu in der Lage ist - auch beliebige andere Tests befehlen lassen, und die zusätzlichen Daten oder Parameter auch beliebige andere Daten oder Parame- ter sein können. Die Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse der programmgesteuerten Einheit, welcher die externe Testvorrichtung die genannten Daten zuführt, sind im Testprogramm oder in Schritt S2 definierte Ein- und/

oder Ausgabeanschlüsse. Das Testprogramm fragt die- se Anschlüsse zu Zeiten, zu welchen es Eingaben von der externen Testvorrichtung entgegennehmen kann, wiederholt ab (Polling).

[0040] Danach (in Schritt S6) führt das Testprogramm den Test oder die Operation aus, zu welchem bzw. wel-

cher es durch die externe Testvorrichtung angewiesen worden ist.

[0041] Nach der Ausführung des Tests oder Operati- on teilt das Testprogramm der externen Testvorrichtung über bestimmte Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse der programmgesteuerten Einheit die erfolgte Ausführung des Tests und/oder das Testergebnis sowie gegebenen- falls nähere Informationen über aufgetretene Fehler (beispielsweise welche Speicherzelle nicht wieder den in sie eingeschriebenen Wert ausgab, und/oder wel- chen Wert die betreffende Speicherzelle statt dessen ausgab), oder die Ausführung der Operation mit (Schritt S7). Über welche Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse diese Mitteilung erfolgt, wird durch eine entsprechende Festlegung im Testprogramm oder in Schritt S2 be- stimmt.

[0042] Was nach Schritt S7 passiert, hängt von der Aktion ab, die das Testprogramm auszuführen hatte.

[0043] Falls das Testprogramm einen Test auszufüh- ren hatte,

- nimmt die externe Testvorrichtung die Testergeb- nisse und die gegebenenfalls erhaltenen weiteren Informationen entgegen und wertet diese sofort oder später aus, und

- erfolgt ein Rücksprung auf Schritt S5, wo die ex- terne Testvorrichtung neue Anweisungen für das Testprogramm ausgibt (die in Schritt 7 an die exter- ne Testvorrichtung ausgegebenen Informationen sind für die externe Testvorrichtung zugleich ein Hinweis darauf, daß das Testprogramm zur Entge- gennahme neuer Anweisungen bereit ist).

[0044] Falls das Testprogramm die programmgesteu- erte Einheit "nur" in einen bestimmten Zustand verset- zen sollte,

- kann die externe Testvorrichtung im Anschluß an Schritt S7 in einem Schritt S8 die Tests durchführen, die in diesem Zustand durchgeführt werden müs- sen (beispielsweise kann die externe Testvorrich- tung nun den Strom messen, welchen die pro- grammgesteuerte Einheit aufnimmt, nachdem die- se durch das Testprogramm in eine Energiesparbe- triebsart, beispielsweise in den sogenannten Sleep-Mode oder in den sogenannten Power- Down-Mode versetzt wurde), und

- erfolgt - gegebenenfalls nach einer Zurückverset- zung der programmgesteuerten Einheit in den vor- herigen Zustandanschließend ein Rücksprung auf Schritt S5, wo die programmgesteuerte Einheit neue Anweisungen für das Testprogramm ausgibt, oder

- erfolgt, wenn eine Zurückversetzung der pro- grammgesteuerten Einheit in den vorherigen Zu-

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stand nicht mehr oder nicht mehr ohne weiteres möglich ist, anschließend ein Rücksprung auf Schritt S3, wodurch die programmgesteuerte Ein- heit zurückgesetzt und das Testprogramm neu ge- startet wird.

[0045] Der in der Figur 1 dargestellte Testablauf ist nur eine von vielen Möglichkeiten zum Testen einer pro- grammgesteuerten Einheit nach dem SIST-Verfahren.

Einige der möglichen Abwandlungen oder Alternativen wurden vorstehend bereits erwähnt; es dürfte einleuch- ten, daß nahezu unbegrenzt viele weitere Abwandlun- gen oder Alternativen möglich sind.

[0046] Je nach der Art der durchzuführenden Tests oder Operationen kann es erforderlich oder nützlich sein, in die programmgesteuerte Einheit spezielle, durch das Testprogramm aktivierbare Module zu inte- grieren, die den Testablauf beschleunigen oder unter- stützen. Hierzu zählt zum Beispiel ein Modul, das die Adressierung eines zu testenden Speichers entspre- chend einer internen Adreßzuordnung modifiziert oder bestimmte Bitmuster (z.B. für Checkerboard-Tests er- forderliche Bitmuster) generiert und zum Beschreiben des zu testenden Speichers verwendet.

[0047] Durch das beschriebene Verfahren können programmgesteuerte Einheiten nach alledem unter al- len Umständen mit minimalem Aufwand schnell und zu- verlässig getestet werden.

[0048] Das Testprogramm kann auch zum Betreiben der programmgesteuerten Einheit während des soge- nannten Burn-In, und/oder oder während Lebensdauer- Tests verwendet werden. In diesem Fall wird das Test- programm vorzugsweise dazu veranlaßt, die von ihm veranlaßbaren, durchführbaren oder unterstützbaren Tests oder Operationen zumindest teilweise in einer festgelegten oder zufälligen Reihenfolge zu wiederho- len.

Bezugszeichenliste [0049]

S1 Verfahrensschritt, in welchem die externe Test- vorrichtung das Testprogramm oder Teile dessel- ben in die programmgesteuerte Einheit lädt S2 Verfahrensschritt, in welchem die externe Test-

vorrichtung die programmgesteuerte Einheit zur Ausführung des Testprogramms vorbereitet S3 Verfahrensschritt, in welchem die externe Test-

vorrichtung die programmgesteuerte Einheit zu- rücksetzt und dadurch das Testprogramm startet, S4 Verfahrensschritt, im welchem das Testpro- gramm die programmgesteuerte Einheit initiali- siert, und die externe Testvorrichtung auf die Mit- teilung des Testprogramms wartet, daß dieses zur Entgegennahme von Daten von der externen Testvorrichtung bereit ist,

S5 Verfahrensschritt, in welchem die externe Test-

vorrichtung Daten an das Testprogramm über- trägt,

S6 Verfahrensschritt, in welchem das Testprogramm einen von der externen Testvorrichtung ge- wünschten Test oder eine von der externen Test- vorrichtung gewünschte Operation ausführt, S7 Verfahrensschritt, in welchem das Testprogramm

den ausgeführten Test oder die ausgeführte Ope- ration betreffende Daten ausgibt,

S8 Verfahrensschritt, in welchem die externe Test- vorrichtung selbst einen Test an der programm- gesteuerten Einheit durchführt

Patentansprüche

1. Verfahren zum Testen einer programmgesteuerten Einheit durch eine externe Testvorrichtung, dadurch gekennzeichnet,

daßdie externe Testvorrichtung in der programm- gesteuerten Einheit ein das Testen der programm- gesteuerten Einheit veranlassendes, durchführen- des oder unterstützendes Programm zur Ausfüh- rung bringt.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,

daß das Testen der programmgesteuerte Einheit zur Überprüfung der programmgesteuerten Einheit auf Hardware-Fehler durchgeführt wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,

daßdas Testen während oder unmittelbar nach der Herstellung der programmgesteuerten Einheit durchgeführt wird.

4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprü- che,

dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm oder Teile desselben von der externen Testvorrichtung in die programmgesteuer- te Einheit geladen wird.

5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprü- che,

dadurch gekennzeichnet,

daß das Programm oder Teile desselben bei der Herstellung der programmgesteuerten Einheit in ei- nem nichtflüchtigen Speicher derselben hinterlegt wird.

6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm mindestens ein in einem nicht- flüchtigen Speicher gespeichertes Unterprogramm aufruft.

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7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprü- che,

dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm durch ein Rücksetzen der pro- grammgesteuerten Einheit gestartet wird.

8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprü- che,

dadurch gekennzeichnet,

daßdie externe Testvorrichtung und das Programm miteinander kommunizieren.

9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,

daßdie Kommunikation über bestimmte Ein- und/

oder Ausgabeanschlüsse der programmgesteuer- ten Einheit erfolgt, und daß das Programm zumin- dest zu den Zeiten, zu welchen es zur Entgegen- nahme Daten bereit ist, die Ein- und/oder Ausgabe- anschlüsse, über welche ihr Daten zugeführt wer- den können, wiederholt abfragt, um diesen zuge- führte Daten entgegenzunehmen.

10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,

daßdie Kommunikation über eine durch das Pro- gramm definierte Schnittstelle der programmge- steuerten Einheit erfolgt.

11. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet,

daßdie Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse der pro- grammgesteuerten Einheit, über welche die Kom- munikation erfolgt, im normalen Betrieb der pro- grammgesteuerten Einheit andere Funktionen in- nehabende Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse sind.

12. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet,

daßdie Kommunikation über im normalen Betrieb der programmgesteuerten Einheit eine Schnittstel- le bildende Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse er- folgt.

13. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 12, dadurch gekennzeichnet,

daß die den Ein- und/oder Ausgabeanschlüssen der programmgesteuerten Einheit zugeführten Da- ten und/oder die aus den Ein- und/oder Ausgabe- anschlüssen der programmgesteuerten Einheit ausgegebenen Daten über mehrere interne Taktzy- klen der programmgesteuerten Einheit und/oder der externen Testvorrichtung stabil gehalten wer- den.

14. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,

daßdie Kommunikation über von der externen Test- vorrichtung beschreibbare und/oder auslesbare Register der programmgesteuerten Einheit erfolgt.

15. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 14, dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm in Abhängigkeit von Daten ar- beitet, welche die externe Testvorrichtung der pro- grammgesteuerten Einheit zuführt.

16. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 15, dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm durch Ausgabe entsprechender Daten aus der programmgesteuerten Einheit signa- lisiert, daß sie zur Entgegennahme von Daten be- reit ist.

17. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 16, dadurch gekennzeichnet,

daßdie externe Testvorrichtung durch die der pro- grammgesteuerten Einheit zugeführten Daten den Ablauf des Programms steuert.

18. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet,

daßdie externe Testvorrichtung durch die Steue- rung des Ablaufs des Programms bestimmt, welche Tests oder Operationen das Programm veranlaßt, durchführt oder unterstützt.

19. Verfahren nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet,

daßdie Veranlassung, Durchführung, oder Unter- stützung des Tests oder der Operationen unter Ver- wendung oder Berücksichtigung zusätzlicher Daten erfolgt, die die externe Testvorrichtung der pro- grammgesteuerten Einheit zuführt.

20. Verfahren nach Anspruch 18 oder 19, dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm die Ausführung und/oder das Ergebnis der Tests bzw. die Ausführung und/oder das Ergebnis der Operationen betreffende Daten an die externe Testvorrichtung ausgibt oder zur Ab- holung durch die externe Testvorrichtung bereit- stellt.

21. Verfahren nach einem der Ansprüche 18 bis 20, dadurch gekennzeichnet,

daß das Programm Daten ausgibt, die als Ein- gangssignale für eine eine Reparatur der pro- grammgesteuerten Einheit durchführende Vorrich- tung geeignet sind.

22. Verfahren nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm die Daten direkt an die die Re- paratur durchführende Vorrichtung ausgibt.

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23. Verfahren nach Anspruch 21 oder 22, dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm die Durchführung der Repara- tur abwartet und dann überprüft, ob die Reparatur erfolgreich war.

24. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprü- che,

dadurch gekennzeichnet,

daßdas Programm den Ablauf eines Tests oder die Durchführung einer Operation beschleunigende oder unterstützende Bestandteile der programmge- steuerten Einheit aktivieren kann.

25. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprü- che,

dadurch gekennzeichnet,

daßdie vom Programm veranlaßbaren, durchführ- baren oder unterstützbaren Tests oder Operationen zumindest teilweise in einer festgelegten oder zu- fälligen Reihenfolge wiederholt werden.