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Partikelanzahlkonzentration [P/cm³]

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Academic year: 2022

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(1)

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Dortmund 17.01.2011

Sabine Plitzko Nico Dziurowitz

Bundesanstalt für Arbeitsschutz und Arbeitsmedizin, Berlin FG 4.5

(2)

Außenluftkonzentrationen Hintergrundkonzentrationen

Partikelanzahl- oder

Massenkonzentrationen, die im Außenbereich (Luv-Seite) der zu

bemessenden Arbeitsbereiche bestimmt werden

Partikelanzahl- oder

Massenkonzentrationen, die in den Innenräumen (Arbeitsbereich) bei weitestgehendem Ausschluss der Außenluftbedingungen und weiterer Quellen im Arbeitsbereich erreicht werden

Vielzahl von flüssigen und festen Aerosol-Emittenten

im Innenbereich (siehe folgende Folien)

• natürlicher Ursprung (Vulkanausbruch, Salzaerosole)

• anthropogenen Quellen (Verkehr, Kraftwerke, Hausbrand)

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Definitionen

(3)

Partikelanzahlkonzentration der Außenluft (n = 34)

5000 10000 15000 20000

Partikelanzahlkonzentration [P/cm³]

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Außenluftkonzentrationen

Außenluftmessungen (BAuA)

n = 34

• spontan durchgeführte Einzel- messungen (> 0,5 h)

• CPC 3007 (10 bis 1.000 nm)

• unterschiedliche Jahres- und Tages- zeiten sowie Witterungsbedingungen

• nicht unmittelbar an befahrenen Straßen oder anderen Emittenten Ö arithm. MW – 10.557 P/cm³

Ö geometr. MW – 9.484 P/cm³ Ö MIN – 3.940 P/cm³

Ö MAX – 21.600 P/cm³

(4)

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Außenluftkonzentrationen

G. Löschau „Partikelanzahl in verkehrsnaher Außenluft“

P. Aalto et al. „Aerosol particle number concentration measurement in five European cities…“

• TSI 3022 (> 7 nm)

• MW über 2 (3) Jahre, verkehrsnaher Bereich

• große Unterschiede Sommer / Winter

• Standortcharakteristika spielt eine wesentliche Rolle

0 5.000 10.000 15.000 20.000 25.000 30.000 35.000 40.000 45.000 50.000

Augsburg Barcelona Dresden Helsinki Rom Stockholm

Anzahl [P/cm³]

(5)

Trennschleifen Schweißarbeiten

gasbetriebene Öfen

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Quellen der Hintergrundkonzentrationen

Partikelanzahlkonzentrationen werden beeinflusst durch:

• Dieselmotoren (Stapler, LKW)

• Elektromotoren (u. a. VC 25)

• Zweitaktmotoren (Rasenmäher)

• offene Flammen (Kamine, Brennöfen, gasbetriebene Öfen)

• Rauche allg. (Schweißen, Tabakrauch)

• heiße gefettete Metallteile (Extruder)

• Emissionen aus heißen Metallen

(Schmelzen, Kochplatten, Heizstrahler)

• Schleifprozesse (Trennschleifen)

• flüssige Aerosole (Spray, Ölnebel)

• Querempfindlichkeiten (Lösungsmitteln)

(6)

Æ

Messungen innerhalb des F 2157 (2006 – 2008)

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Orientierende Arbeitsplatzmessungen

(7)

• Stationäre Messungen mit dem SMPS (WRAS)

Î Partikelanzahlkonzentration und Partikelgrößenverteilung (5 nm - > 40 µm) im Arbeitsbereich

Î Hintergrundkonzentration im Arbeitsbereich (Messungen vorab)

• Stationäre und parallele Messungen mit dem CPC 3007

Î Partikelanzahlkonzentration in der Außenluft (10 nm - 1 µm)

Î Ermittlung von möglichen Nanopartikelemittenten im Arbeitsbereich

• Stationäre Messung mit dem Aerosolspektrometer 1.109

Î Ermittlung der Massenkonzentrationen im Arbeitsbereich (ohne Cal.-Faktor)

• Probenahme auf goldbedampften Filtern oder Messung mit dem Thermalpräzipitator Î Morphologische Charakterisierung der am Messtag freigesetzten Partikel

Î EDX-Analyse zur stofflichen Analyse der am Messtag feigesetzten Partikel

• Materialprobe / Liegestaubprobe

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Messstrategie im F 2157

(8)

Prozess mittlere Massenkonzentrationen CE [mg/m³]

mittlere Partikelanzahlkonzentration [T/cm³]

Hintergrund Bearbeitungs- prozess

Außenluft Hintergrund Bearbeitungs- prozess

Erhöhung zum Hintergrund Herstellung und Umgang

mit Nanofasern (Arbeiten im Laborabzug)

Messungen unmittelbar neben dem Bearbeiter

<0,02 0,025

keine signifikante Erhöhung durch den Bearbeitungsprozess

3,9E+03 bis 5,3E+03

(CPC)

1,3E+03 (WRAS)

2,3E+03 (WRAS)

keine signifikante Erhöhung durch den Bearbeitungsprozess

Messung im Laborabzug (worst case)

0,7E+03

(CPC)

Spitzen bei 1,5E+04

(CPC)

6 - 20

Messung von Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Expositionen - Labormaßstab

(9)

Prozess mittlere Massenkonzentrationen CE [mg/m³]

mittlere Partikelanzahlkonzentration [T/cm³]

Hintergrund Bearbeitungs- prozess

Außenluft Hintergrund Bearbeitungs- prozess

Erhöhung zum Hintergrund Umgang mit

synthetischen keramischen Pulvern im

Laborabzug

5,4E+03 (CPC)

2,1E+03 0,5E+03 (Abzug an)

0,7E+03 keine signifikante Erhöhung zum

Hintergrund

1,00E+00 1,00E+01 1,00E+02 1,00E+03 1,00E+04 1,00E+05 1,00E+06

12:57 13:12 13:26 13:40 13:55 14:09 14:24

Total conc. [dN/dln(dp) /cm³] Abzug in Betrieb

Anzünden von 2 Kerzen Abzug in Betrieb

Arbeiten mit synthetischen keramischen Pulvern unter dem Abzug

Messung von Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Expositionen - Labormaßstab

(10)

Prozess mittlere Massenkonzentrationen [mg/m³]

mittlere Partikelanzahlkonzentration [T/cm³]

Hintergrund Bearbeitungs- prozess

Außenluft Hintergrund Bearbeitungs- prozess

Erhöhung zum Hintergrund Reinigung der Anlage vor

Inbetriebnahme und Probelauf (Flammenpyrolyse)

0,2 1,7

ca. 8fache Erhöhung zum Hintergrund

1,2E+04 bis 1,7E+04

(CPC)

0,7E+04 bis 2,0E+04 (WRAS)

2,2E+04 (WRAS)

keine signifikante Erhöhung zum

Hintergrund

Herstellung von TiO2

(Flammenpyrolyse) und Entnahme der Materialien

0,2 0,4

ca. 2fache Erhöhung zum Hintergrund

1,2E+04 bis 1,7E+04

(CPC)

0,7E+04 bis 2,0E+04 (WRAS)

2,1E+04 (WRAS)

keine signifikante Erhöhung zum

Hintergrund

Messung von Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Expositionen – Kleinserienproduktion / Produktion

(11)

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Expositionen – Kleinserienproduktion/Produktion

Zeitlicher Verlauf der Partikelanzahlkonzentration und der Partikelgrößen- verteilung bei der Herstellung von nanoskaligem TiO2

0,00E+00 5,00E+03 1,00E+04 1,50E+04 2,00E+04 2,50E+04 3,00E+04 3,50E+04 4,00E+04

7:12 7:40 8:09 8:38 9:07 9:36 10:04 10:33 11:02

Total conc. [dN/dln(dp) [/cm³]]

0 5 10 15 20 25 30 35

geometr. Mittelwert der Partikelgrößenverteilung [nm]

Konzentrationsverlauf zeitl. Verlauf Partikelgröße Grobreinigung Filter

Grobreinigung Kessel

Probebetrieb

(12)

0 2.000 4.000 6.000 8.000 10.000 12.000 14.000 16.000 18.000 20.000

08:09 08:24 08:38 08:52 09:07 09:21 09:36 09:50 10:04 10:19 10:33 10:48

Massenkonzentrationen [µg/m³]

CE = 1,7 mg/m³

Grobinnenreinigung des Kessels

Inbetriebnahme der Anlage (Probebetrieb)

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Expositionen – Kleinserienproduktion/ Produktion

Zeitlicher Verlauf der Massenkonzentration bei der Herstellung von nanoskaligem TiO2

(13)

• Produktpartikelunabhängige Emittenten im Arbeitsbereich sind zu berücksichtigen (z.B. Rußpartikel, Schweißrauchpartikel, Ölnebel etc.)

• Eine Erhöhung der Anzahlkonzentration bei sachgerechter Arbeit im Umgang mit Nanomaterialien (z.B. im geschlossenen System, Laborabzug) konnte zzt. noch nicht nachgewiesen werden

• Trotzdem können nanostrukturierte Materialien (Partikelagglomerate) freigesetzt werden, wie Filter- und Liegestaubproben zeigen (Feisetzung von Nanomaterialien z.B. durch Um- und Abfüllen, Dispergieren usw.)

• Die zeitlichen Verläufe der Partikelanzahlkonzentration und der Partikelgrößen- verteilung sind insbesondere bei hoher Hintergrundbelastung kritisch zu werten

• Vorsicht bei Reinigungs- und Wartungsarbeiten sowie Störungen des Normal-

betriebes (auch geschlossene Systeme) Æ Erhöhte Partikelfreisetzung möglich

Ergebnisse können noch nicht verallgemeinert werden,

weitere Messungen

sind in unterschiedlichen Herstellungs- und Verarbeitungsbereichen

mit verschiedenen Materialien notwendig !

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Fazit

(14)

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Messstrategien (NanoCare/NanoGEM)

• Aussagen zu den exakten Produktpartikelanzahlkonzentrationen ist zzt. noch nicht möglich, da keine genaue Abgrenzung zur Hintergrundbelastung

• Messstrategien werden erstellt mit dem Ziel einer möglichst genauen Bewertung der Konzentration

• NanoCare: http://www.nanopartikel.info Æ Publikationen

• NanoGEM: Weiterentwicklung der Messstrategie auf der Grundlage von SOP´s aus NanoCare, von BTS GmbH, BASF und der BAuA

Alle Fotos: BAuA

(15)

Danke

Messung der Exposition gegenüber beabsichtigt hergestellten Nanomaterialien an Arbeitsplätzen

Dortmund 17.01.2011

Referenzen

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