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(43) Veröffentlichungstag:
1 4.01 .1 998 Patentblatt 1 998/03 (21) Anmeldenummer: 97111482.2 (22) Anmeldetag: 07.07.1997
European Patent Office
Office europeen des brevets (11) E P 0 81 8 6 8 4 A 2 EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG
igstag: (51) |nt. Cl.6: G01 R 1/073
(84) Benannte Vertragsstaaten: (72) Erfinder:
AT BE CH DE DK ES Fl FR GB GR IE IT LI LU MC • Prokopp, Manfred
NL PT SE 97877 Wertheim-Reicholzheim (DE)
• Geier, Rudi
(30) Prioritat: 10.07.1996 DE 19627801 97900 Kulsheim-Hundheim (DE)
• Goldschmitt, Volker
(71 ) Anmelder: atg test systems GmbH g7877 wertheim-Dorlesberg (DE) 97877 Wertheim (DE)
(74) Vertreter: Ganahl, Bernhard Schillerstrasse 5
85567 Grafing (DE)
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(54) Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten (57) Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prü-
fen von elektrischen Leiterplatten mit einer Kontakt- platte (1), die als Leiterplatte ausgebildet ist und die an einer Prüfseite, bspw. ihrer Oberseite, Kontaktele- mente, die mit Prüfpunkten der zu prüfenden Leiter- platte elektrisch leitend verbunden werden können, und an ihrer anderen Seite, bspw. ihrer Unterseite, mit den Kontaktelementen über Leiterbahnen (3) elektrisch ver- bundene Kontaktstellen (4) aufweist, wobei an der die Kontaktstellen aufweisenden Seite der Kontaktplatte (1) Elektronikeinheiten (8) lösbar befestigbar sind, wobei gleichzeitig eine mechanische Verbindung zur Kontakt- platte (1) als auch eine elektrische Verbindung zwi- schen den einen Teil einer Prüfschaltung aufweisenden Elektronikeinheiten (8) und den Kontaktstellen (4) her- gestellt wird.
Printed by Xerox (UK) Business Services 2.15.8/3.4
Beschreibung
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten.
Vorrichtungen zum Prüfen von elektrischen Leiter- platten sind bspw. aus der US 3,564,408 bzw. der US 4,417,204 bekannt. Diese Vorrichtungen weisen eine Kontaktplatte auf, an der Prüfstifte in einem Grundraster angeordnet sind. Die Prüstifte sind über lange Kabel mit einer Prüfschaltung verbunden. Die zu prüfenden Lei- terplatten werden auf die Prüfplatte aufgelegt, wobei ein Adapter zwischen der Leiterplatte und der Prüfplatte angeordnet sein kann, so daß zwischen jedem Prüf- punkt der zu prüfenden Leiterplatte und einem Prüfstift ein elektrischer Kontakt hergestellt wird.
Ausgehend von dieser Art von Prüfvorrichtungen wurden modular aufgebaute Prüfvorrichtungen entwik- kelt, wie sie in den Patenten DE 32 40 916 C2 und DE 33 40 180 C1 beschrieben sind. Diese Art von Prüfvor- richtungen weisen eine Grundplatte auf, auf der vertikal angeordnete Module lagern, die jeweils einen Teil der elektronischen Prüfschaltung umfassen und an ihrem oberen Ende vertikal ausgerichtete Prüfstifte aufwei- sen. In einer Prüfvorrichtung werden mehrere derartige Module nebeneinander angeordnet, wobei die Anord- nung der Prüfstifte ein die Kontaktplatte ersetzendes Kontaktfeld bildet. Für einen guten Zusammenhalt der Module kann eine Lochplatte auf die Prüfstifte aufge- setzt werden, wobei jeder Prüfstift ein Loch in der Loch- platte durchsetzt und so in seiner Lage fixiert ist.
Dieser modulare Aufbau des Kontaktfeldes hat sich sehr bewährt und in der Praxis durchgesetzt. Ein wesentlicher Vorteil dieses modularen Aufbaus ist, daß der Kontaktdruck, der beim Prüfen einer Leiterplatte angelegt wird, über die Module an die Grundplatte wei- tergeleitet wird. Nachteilig ist jedoch, daß bei einer Änderung des Rasters des Kontaktfeldes die gesamten Module ausgetauscht werden müssen. Deshalb ist man aus Kostengründen in der Anwendung im wesentlichen auf ein Grundraster festgelegt, das nur mit erheblichem finanziellen Aufwand verändert werden kann.
Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer Vor- richtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten, die flexibel in der Anwendung und kostengünstig in der Her- stellung und in der Benutzung ist.
Die Aufgabe wird durch eine Prüfvorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angege- ben.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeich- nungen beispielhaft näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch vereinfacht einen Bereich der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung im Querschnitt durch die Kontaktplatte,
Fig. 2 schematisch vereinfacht einen
Bereich einer weiteren Ausführungs- form der erfindungsgemäßen Prüf- vorrichtung im Querschnitt durch die Kontaktplatte,
5 Fig. 3 schematisch vereinfacht einen Bereich einer weiteren Ausführungs- form der erfindungsgemaßen Prüf- vorrichtung im Querschnitt durch die
10 Kontaktplatte,
Fig. 4a und 4b jeweils einenBereich eines Kontakt- felds der Kontaktplatte der in Fig. 3 gezeigten Prüfvorrichtung in der
15 Draufsicht.
Die erfindungsgemäße Prüfvorrichtung für Leiter- platten weist eine Kontaktplatte 1 auf, die vorzugsweise als Padfeldplatte mit mehreren als Kontaktelement die- 20 nenden Padfeldern 2 an ihrer Oberseite ausgebildet ist.
Die Padfelder 2 sind an sich bekannte Goldplättchen, die einen guten Kontakt gewährleisten. Im Betrieb liegt auf der Kontaktplatte 1 ein Adapter mit Kontaktstiften auf, die mit den Padfeldern 2 in Berührung stehen.
25 An der Unterseite der Kontaktplatte 1 sind Kontakt- stellen 4 vorgesehen. Von jedem Padfeld 2 fuhrt eine Leiterbahn 3 in der als Leiterplatte ausgebildeten Kon- taktplatte 1 zu einer der Kontaktstellen 4, die sehr dicht aneinander angeordnet sein können. Die Kontaktstellen 30 4 sind vorzugsweise in Reihen gruppiert angeordnet, wobei in Fig. 1 und 2 jeweils ein Schnitt durch eine Gruppe von vier Reihen dargestellt ist. Durch die Aus- bildung der Kontaktplatte 1 als Leiterplatte können die Padfelder 2 und die Kontaktstellen 4 voneinander unab- 35 hängig auf der Kontaktplatte 1 angeordnet werden.
In einer solchen Gruppe von Kontaktstellen 4 sind mittig in der Kontaktplatte vertikale Durchgangsbohrun- gen 5 eingebracht, die jeweils innerhalb eines Padfel- des 2, vorzugsweise mittig im Padfeld angeordnet sind.
40 Im Bereich der Durchgangsbohrungen 5 sind in den Padfeldern 2 Senken 6 eingebracht, die zur Aufnahme von Schraubenköpfen von in den Durchgangsbohrun- gen lagernden Schrauben 7 dienen.
Mit den Schrauben 7 werden Elektronikeinheiten 8 45 an der Unterseite der Kontaktplatte 1 lösbar befestigt.
Die Elektronikeinheiten 8 weisen eine vertikal ausge- richtete Schaltungskarte 9 mit elektronischen Bauteilen 10 auf, die zusammen einen Teil der Prüfschaltung bil- den. Dieser Teil ist üblicherweise die Abtast- bzw. Scan- 50 einrichtung, mit der die einzelnen Prüfpunkte der
Leiterplatte der Reihe nach abgetastet werden.
Am oberen Endbereich der Schaltungskarte 9 ist eine Befestigungsleiste 11 an der Schaltungskarte 9 befestigt, die aus Kunststoff ausgebildet ist und einen 55 rechteckigen Querschnitt mit zwei Schmalseitenwan- dungen 1 2 und zwei Breitseitenwandungen 1 3 aufweist.
Die Befestigungleiste 1 1 ist mit einer Schmalseitenwan- dung 1 2 an die Schaltungskarte 9 geschraubt (Schrau- 5 Fig. 3
ben 16, Muttern 17), wobei zwischen der Schaltungskarte 9 und der Befestigungsleiste 11 ein Kontaktgummi 14 und eine Flexleitung 15 aneinander- liegend eingeklemmt sind. Der Kontaktgummi 14 ist zwischen der Schaltungskarte 9 und der Flexleitung 15 angeordnet. Die Flexleitung 15 ist eine biegsame Platte mit mehreren elektrischen Leitungen und entsprechen- den Kontaktstellen.
An der Schaltungskarte 9 sind im Berührungsbe- reich mit dem Kontaktgummi 14 Kontaktstellen ausge- bildet, wobei der Kontaktgummi 14 unter mechanischem Druck in Druckrichtung leitend ist, so daß er die Kontaktstellen der Schaltungskarte 9 und die Kontaktstellen der elektrischen Leitungen der Flexlei- tung 15 elektrisch miteinander verbindet. Die Flexlei- tung ist von der Schmalseitenwandung 12 zu der oberen Breitseitenwandung 13 geführt. Sie ist bspw.
mittels einer Klebeverbindung an der Befestigungsleiste 1 1 befestigt.
Mit der oberen Breitseitenwandung 13 wird die Befestigungsleiste 11 an der Unterseite der Kontakt- platte 1 im Bereich der Kontaktstellen 4 befestigt, wobei zwischen der Flexleitung 15 und der Kontaktplatte 1 eine Kontaktfederleiste 20 (Fig. 1) oder ein weiterer Kontaktgummi 21 (Fig. 2) angeordnet sind, um eine elektrische Verbindung zwischen der Flexleitung 15 und den Kontaktstellen 4 der Kontaktplatte 1 herzustellen.
Die Kontaktfederleiste 20 ist aus zwei übereinander angeordneten Kunststoffleisten 22a, 22b ausgebildet, in welchen zu der Anordnung der Kontaktstellen 4 korre- spondierende Durchgangsbohrungen eingebracht sind, in welchen Kontaktfedern 23 lagern. Die Kontaktfedern 23 sind im Bereich ihrer Mantelfläche abgestuft und bestehen aus einem elektrisch leitenden Metall. Sie sind jeweils zwischen einer Kontaktstelle 4 der Kontakt- platte 1 und einer Kontaktstelle der Flexleitung 15 ein- gespannt, so daß durch jede Kontaktfeder 23 eine elektrische Verbindung zwischen einer der Kontaktstel- len 4 der Kontaktplatte 1 und einer elektrischen Leitung der Flexleitung hergestellt wird.
Bei der Ausführungsform nach Fig. 2 wird die elek- trische Verbindung zwischen den Kontaktstellen 4 und der Flexleitung 15 durch den Kontaktgummi 21 herge- stellt, der unter mechanischem Druck in Druckrichtung leitfähig ist.
Die Schraube 7 bzw. die in Längsrichtung der Befe- stigungsleiste 11 verteilt angeordneten Schrauben 7 greifen jeweils in eine in einer Ausnehmung 24 in der Befestigungsleiste 11 eingesetzte Mutter 25 ein. Als Schrauben 7 werden kleine Uhrmacherschrauben ver- wendet.
Mit der Erfindung wird somit eine Kontaktplatte 1 geschaffen, an der eine oder mehrere Schaltungskar- ten lösbar befestigbar sind, wobei sowohl eine mechani- sche als auch eine elektrische Verbindung hergestellt wird. Es ist überraschend, daß eine lösbare Verbindung auf einfache Art und Weise realisiert werden kann, da zwischen den Padfeldern 2 kaum Platz vorhanden ist.
Bei den erfindungsgemaßen Ausführungsbeispielen wurden deshalb die Mittel für die lösbare Verbindung - Uhrmacherschrauben - in den Padfeldern 2 plaziert. Es hat sich überraschenderweise gezeigt, daß die Padfel- 5 der, in welchen die Schrauben angeordnet sind, einen ausreichend guten elektrischen Kontakt zu den Prüfstif- ten eines Adapters gewährleisten.
Die Ausbildung der Kontaktplatte 1 als Leiterplatte, wodurch sowohl die Padfelder 2 als auch die Kontakt- 10 stellen 4 frei angeordnet werden können, in Kombina- tion mit dem Vorsehen einer lösbaren Verbindung zwischen der Kontaktplatte 1 und den Elektronikeinhei- ten 8 ermöglicht einen schnellen und kostengünstigen Austausch der Kontaktplatte 1, wobei die Rasterung 15 bzw. Anordnung der Padfelder 2 bei Verwendung der- selben Elektronikeinheiten 8 völlig frei gestaltet werden kann.
Zur Befestigung der Elektronikeinheiten 8 an der Kontaktplatte 1 werden Spannbügel verwendet, die die 20 Elektronikeinheiten 8 in ihrer Stellung auf den Kontakt- platten spannen, so daß die Schrauben ohne Spannung angezogen werden können, wodurch sowohl die mechanische als auch die elektrische Verbindung fixiert wird.
25 Durch die lösbare mechanische und elektrische Verbindung werden wesentliche Vorteile erzielt:
Das Vorsehen einer Kontaktplatte, die unabhängig von der Prüfelektronik ist, erlaubt durch einfachen 30 Austausch der Kontaktplatte eine individuelle Anpassung des Rasters an die zu prüfende Leiter- platte. Es können somit an einer Prüfvorrichtung unterschiedliche Kontaktplatten mit unterschiedli- chen Padfeldrastern eingesetzt werden, wobei 35 jeweils dieselbe Elektronik verwendet wird.
Die Kontaktplatte muß kein homogenes Raster auf- weisen. Es ist bspw. ein Mischraster möglich, mit einem herkömmlichen Grundraster auf einem Teil- 40 bereich der Kontaktplatte, oder auch mit einem Raster mit doppelter Dichte auf dem anderen Teil- bereich der Kontaktplatte.
Das Raster kann auch individuell an die Leiterplatte 45 angepaßt sein, wobei die Padfelder identisch zu den Prüfpunkten angeordnet sind. Hierbei über- nimmt die Kontaktplatte die Translatorfunktion, so daß mit einem 1 :1 -Adapter eine Leiterplatte mit der Prüfvorrichtung verbunden werden kann.
50 Die Geometrie der Kontaktplatte ist somit unabhän- gig von der Prüfelektronik.
Es können relativ viele Kontaktstellen 4 in einen 55 Weinen Bereich gruppiert werden, so daß mit einer einzigen Elektronikeinheit, die vorzugsweise eine hochintegrierte Schaltung aufweist, eine relativ große Fläche der Kontaktplatte bedient werden
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kann.
Die Erfindung ist selbstverständlich nicht auf Schrauben als Verbindungsmittel beschränkt, sondern es können auch Bolzen oder Spannelemente verwen- det werden, mit welchen die Kontaktplatte und die Elek- tronikeinheiten zusammengehalten werden. Es können z.B. auch fest in die Kontaktplatte eingelassene Stifte vorgesehen sein, die an der Oberseite der Kontaktplatte abgedeckt sind. Zweckmäßig ist jedoch die Verwen- dung eines elektrisch leitenden Verbindungselements, das in den Padfeldern angeordnet ist, so daß das Ver- bindungselement zugleich als Kontaktelement für die Kontaktstifte eines Adapters dient.
Es hat sich ferner herausgestellt, daß durch die Gruppierung der Kontaktsellen 4, die bspw. in einem streifenförmigen Bereich mit einer Breite von 6,5 mm angeordnet sind (Fig. 1 und Fig. 2), an der Unterseite der Kontaktplatte 1 Zwischenraum zwischen den Elek- tronikeinheiten 8 und deren Verbindungsleisten geschaffen wird, in dem Stützplatten oder Stützstreben 18 angeordnet werden können, so daß eine Durchbie- gung beim Prüfvorgang vollständig verhindert wird und die Elektronikeinheiten 8 mechanisch nicht belastet werden und von unten frei zugänglich sind.
Die Kontaktplatte kann auch in mehrere Segmente unterteilt sein, wobei die einzelnen Segmente in ein sta- biles Gitter aus Stahl- oder Aluminiumstreben einge- setzt werden, so daß eine ausreichende Stabilität gewährleistet wird.
Die beiden oben beschriebenen Ausführungsbei- spiele weisen zudem folgende Vorteile auf:
Es wird eine lötfreie Verbindungstechnik erzielt.
Es wird eine extrem hohe Kontaktdichte erzielt.
Mechanische Verzüge werden durch die Kontakt- gummis kompensiert.
Es ist eine allgemein anwendbare, flexible und kostengünstige Verbindungstechnik.
Die mit der Flexleitung in Verbindung stehenden Flächen der Kontaktplatte bzw. der Elektronikein- heit sind frei konfigurierbar, d.h. ihre Kontaktstellen sind frei anordbar.
Die Anordnung der Elektronikeinheiten erfolgt in der dritten Dimension gegenüber der Kontaktplatte.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel der erfindungs- gemaßen Prüfvorrichtung ist in Fig. 3 und 4 gezeigt.
Diese Prüfvorrichtung weist wiederum eine als Lei- terplatte ausgebildete Kontaktplatte 1 auf, die an ihrer Oberseite bzw. Prüfseite mit Padfeldern 2 versehen ist.
Die Padfelder 2 bilden ein in Reihen 30 und Spalten 31 unterteiltes Kontaktfeld, wobei die einzelnen Spalten 31 einen Mittenabstand a von bspw. 1/10 Zoll und die Rei- hen 30 einen Mittenabstand b von 1/20 Zoll aufweisen, wodurch gegenüber herkömmlichen Kontaktplattenan- ordnungen mit einer 1/10 Zoll- Rasterung eine doppelte Padfelddichte erreicht wird.
An der Unterseite der Kontaktplatte 1 sind wie- derum Kontaktstellen 4 ausgebildet, die jeweils mit einem Padfeld 2 über eine Leiterbahn (nicht dargestellt) verbunden sind.
5 Die Kontaktstellen 4 sind in Reihen gruppiert ange- ordnet, wobei jeder Reihe von Kontaktstellen eine Elek- tronikeinheit 8 zugeordnet ist. Die Elektronikeinheit 8 weist eine Andrückplatte 33 mit einer oberen horizonta- len Kante 34 und einer unteren horizontalen Kante 35 10 auf. Die Andrückplatten 33 sind zur Kontaktplatte 1
senkrecht angeordnet, und über jeder Andrückplatte 33 ist eine Andrückleiste 36 vorgesehen, die mit der Andrückplatte 33 fest verbunden ist.
Auf der Oberseite der Andrückleisten 36 sind Kon- 15 taktfedern 23 vertikal befestigt. Im Randbereich sind an der Oberseite der Andrückleisten 36 Positionierstifte 37 angeordnet, die in entsprechende an der Unterseite der Kontaktplatte 1 eingebrachte Positionierbohrungen 38 eingreifen, 50 daß die Anordnung der Elektronikeinhei- 20 ten 8 bezüglich der Kontaktplatte 1 festgelegt ist und die Kontaktfedern 23 auf jeweils eine Kontaktstelle 4 ausge- richtet sind.
An einer Seitenwandung der Andrückleisten 36 ist jeweils eine Schaltungskarte 9 mit ihrem oberen Rand 25 befestigt, so daß sich die Schaltungskarten 9 nach unten, nicht ganz bis zur unteren Kante 35 der Andrück- platte 33 erstrecken. Die Schaltungskarten 9 sind vor- zugsweise mit ihren elektronischen Bauteilen 10 zur Andrückplatte 33 zeigend angeordnet. Die Kontaktfe- 30 dem 23 sind über elektrische Leitungen 39 im Bereich der Andrückleiste 36 mit den Schaltungskarten 9 elek- trisch verbunden.
Die unteren Kanten 35 der Andrückplatten 33 sind als Schwalbenschwanz ausgebildet, wobei die 35 Andrückplatten mit ihrem Schwalbenschwanz in ent- sprechend geformten Führungsnuten von Führungslei- sten 40 lagern. Die Führungsleisten 40 sind an einer Grundplatte 41 in Nuten 42 vertikal verschiebbar einge- bracht, wobei zwischen dem Nutboden und der Unter- 40 seite einer jeden Führungsleiste 40 ein Halbmondstab 43 angeordnet ist, der im Querschnitt die Form eines Halbkreises mit einer Bogenfläche 44 und einer Flach- seitenfläche 45 hat.
Zum Einstecken und Herausnehmen einer Elektro- 45 nikeinheit 8 ist der Halbmondstab 43 mit seiner Flach- seitenfläche 45 horizontal ausgerichtet, so daß die Führungsleisten 40 tief unten in den Nuten 42 angeord- net sind. Durch Drehen des Halbmondstabes um 90°, so daß die Flachseitenflächen vertikal ausgerichtet so sind, werden die Führungsleisten 40 aus den Nuten 42 etwas nach oben gedrückt, so daß auch die auf der jeweiligen Führungsleiste 40 lagernde Elektronikeinheit 8 nach oben gegen die Kontaktplatte 1 gedrückt wird.
Hierdurch werden die Kontaktfedern 23 an die Kontakt- 55 stellen 4 gedrückt, so daß eine elektrische Verbindung
hergestellt wird.
Um ein Durchbiegen der Kontaktplatte 1 nach oben zu verhindern, sind in regelmäßigen Abständen zwi-
sehen den Elektronikeinheiten 8 vertikal ausgerichtete Zugstreben bzw. Zugplatten 46 angeordnet. Die Zug- platten 46 sind an ihren oberen und unteren horizonta- len Kanten 47, 48 jeweils als Schwalbenschwanz ausgebildet. Die als Schwalbenschwanz ausgebildeten Kanten 47, 48 lagern jeweils in einer oberen oder unte- ren schmalen Halteleiste 49, 50, wobei die Kalteleisten entsprechende Nuten zur Aufnahme eines Schwalben- schwanzes aufweisen, so daß zwischen den Haltelei- sten einer Zugplatte 46 eine Zugspannung übertragen werden kann. Die obere Halteleiste 49 ist an die Unter- seite der Kontaktplatte 1 befestigt und die untere Halte- leiste 50 ist an die Grundplatte 41 befestigt, so daß die Zugplatten 46 die Kontaktplatte 1 und die Grundplatte 41 auf vorbestimmtem Abstand halten und der durch die Elektronikeinheiten 8 ausgeübten Spannung entge- genwirken.
Mit diesem Ausführungsbeispiel werden all die durch die lösbare Verbindung zwischen der Kontakt- platte 1 und den Elektronikeinheiten 8 und die Ausfüh- rung der Kontaktplatte 1 als Leiterplatte erzielten, oben beschriebenen Vorteile gleichermaßen erreicht. Zudem kann die Rasterung der als Kontaktelemente dienenden Padfelder 2 verkleinert werden, da die Padfelder 2 in ihrer Mindestgröße nicht durch eine Schraubenkopf- größe festgelegt sind. Es lassen sich somit einfach Kon- taktplatten 1 mit einer doppelten oder vierfachen Padfelddichte gegenüber bekannten 1/10 Zoll-Raste- rungen realisieren.
Die Zuordnung der Kontaktstellen 4 zu den Padfel- dern 2 der in Fig. 4 gezeigten Kontaktplatte 1 erfolgt vor- zugsweise so, daß die das Kontaktfeld darstellenden Padfelder 2 aus acht nebeneinander angeordneten Spalten 31 mit denjenigen Kontaktstellen 4 elektrisch verbunden sind, die mit zwei Elektronikeinheiten 8 in Kontakt stehen. Den beiden Elektronikeinheiten 8 wer- den vollständige Reihen 30 der acht Spalten 31 zuge- ordnet, wobei die Reihen 30 jeweils abwechselnd den beiden Elektronikeinheiten 8 zugeordnet werden. Wird im Betrieb eine der beiden Elektronikeinheiten 8 wegge- lassen, so ist nur jede zweite Reihe 30 mit einer Elektro- nikeinheit 8 verbunden und damit funktionsfähig. Durch den "Ausfall" jeder zweiten Reihe 30 wird das mit dop- pelter Dichte ausgebildete Kontaktfeld nur mit einfacher Dichte betrieben. Somit läßt sich bei diesem Ausfüh- rungsbeispiel der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung nachträglich durch Hinzufügen oder Wegnehmen einer oder mehrerer Elektronikeinheiten 8 die effektive Dichte des Kontaktfeldes insgesamt oder auch nur bereichs- weise variieren.
Alle oben beschriebenen Ausführungsbeispiele der Erfindung unterscheiden sich von den bekannten Prüf- vorrichtungen dadurch, daß die elektrische Verbindung zwischen der Kontaktplatte 1 und den Elektronikeinhei- ten 8 alleine durch eine reine Druckverbindung zwi- schen den Kontaktstellen 4 und den Kontaktfedern 23 bzw. dem Kontaktgummi 21 hergestellt wird.
Patentansprüche
1 . Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplat- ten, mit einer Kontaktplatte (1), die als Leiterplatte 5 ausgebildet ist und die an einer Prüfseite, bspw.
ihrer Oberseite, Kontaktelemente (2) aufweist, die mit Prüfpunkten der zu prüfenden Leiterplatte elek- trisch leitend verbunden werden können, und an ihrer anderen Seite, bspw. ihrer Unterseite, Kon- 10 taktstellen (4) aufweist, die mit den Kontaktelemen- ten (2) über Leiterbahnen (3) elektrisch verbunden sind und an der die Kontaktstellen (4) aufweisen- den Seite Elektronikeinheiten (8) mittels einer mechanischen Verbindung lösbar befestigt sind, 15 wobei eine elektrische Verbindung zwischen den einen Teil einer Prüfschaltung aufweisenden Elek- tronikeinheiten (8) und den Kontaktstellen (4) her- gestellt ist.
20 2. Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktstellen (4) in einen oder mehrere Teilbereiche der Kontaktplatte (1) gruppiert ange- ordnet sind.
25 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktplatte (1) mit den Elektronikeinhei- ten (8) mittels Verbindungselementen verbunden 30 ist, die aus einem elektrisch leitenden Material bestehen und im Bereich jeweils eines Kontaktele- mentes der Kontaktplatte (1), das vorzugsweise ein Padfeld (2) ist, angeordnet sind.
35 4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verbindungselemente Schrauben (7) sind, die in Durchgangsbohrungen (5) der Kontaktplatte (I) lagern.
40 5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verbindungselemente mechanische Spannelemente sind.
45 6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Verbindungsleiste (1 1) vorgesehen ist, die zwei zueinander senkrecht angeordnete Wandun- 50 gen (12, 13) aufweist, wobei an einer Wandung (12) eine der Elektronikeinheiten (8) und an der anderen Wandung (13) die Kontaktplatte (1) befestigt ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, 55 dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektronikeinheiten (8) mittels einer weite- ren Schraubverbindung an der Verbindungsleiste (II) befestigt sind.
5
8. Vorrichtung nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet,
daß auf den mit der Elektronikeinheit (8) bzw. mit der Kontaktplatte (1) in Verbindung stehenden Wandungen (12, 13) der Verbindungsleiste (11) 5 eine Flexleitung (15) angeordnet ist, die biegsam ist und mehrere elektrische Leitungen aufweist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, 10
daß zwischen der Flexleitung (15) und der Elektro- nikeinheit (8) ein Kontaktgummi (14) angeordnet ist, so daß zwischen den elektrischen Leitungen der Flexleitung (15) und der Elektronikeinheit (8) eine elektrisch leitende Verbindung hergestellt ist. 1s 1 0. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Flexleitung (15) und der Kontakt- platte (1) ein Kontaktgummi (21) angeordnet ist, so 20 daß zwischen den elektrischen Leitungen der Flex- leitung (15) und den Kontaktstellen (4) der Kontakt- platte (1) eine elektrisch leitende Verbindung hergestellt ist.
1 1 . Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, 25 dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Flexleitung (15) und der Kontakt- platte (1) eine Kontaktfederleiste (20) angeordnet ist, so daß zwischen den elektrischen Leitungen 30 der Flexleitung (15) und den Kontaktstellen (4) der Kontaktplatte (1) eine elektrisch leitende Verbin- dung hergestellt ist, wobei die Kontaktfederleiste (20) mehrere elektrisch leitende Kontaktfedern ent- hält, die zwischen den Kontaktstellen der Kontakt- 35 platte (1) und der Flexleitung (15) gespannt sind.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 1 1 , dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktplatte (1) in mehrere Segmente 40 unterteilt ist, wobei die Segmente vorzugsweise in ein stabiles Gitter aus Stahl- oder Aluminiumstre- ben eingesetzt sind.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, 45 dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktelemente (2) auf der Kontaktplatte (1) in einem inhomogenen Raster angeordnet sind.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, 50 dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktelemente (2) in einer identischen Anordnung zu den Prüfpunkten einer zu prüfenden Leiterplatte auf der Kontaktplatte (1) angeordnet
sind. 55
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktplatte (1) durch Stützstreben bzw.
Stützplatten von unten unterstützt wird.
16. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektronikeinheiten (8) eine Andrückplatte (33) aufweisen, die sich an einer Grundplatte (41) abstützt und eine Andrückleiste (36) mit an der Andrückleiste (36) angeordneten Kontaktfedern (23) gegen die Kontaktstellen (4) der Kontaktplatte (1) drückt.
1 7. Vorrichtung nach Anspruch 1 6, dadurch gekennzeichnet,
daß an der Andrückleiste (36) eine Schaltungskarte (9) befestigt ist, die mit den Kontaktfedern (23) in elektrischer Verbindung steht.
18. Vorrichtung nach Anspruch 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektronikeinheiten (8) durch korrespondie- rende Positionierstifte (37) und Positionierbohrun- gen (38) an der Kontaktplatte (1) ausgerichtet sind.
19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 18, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Andrückplatte (33) und der Grundplatte (41) ein Druckmechanismus, bspw. in Form eines Halbmondstabes (43), angeordnet ist, mit dem die Andrückplatte (33) mit einer nach oben wirkenden Druckkraft beaufschlagt werden kann.
20. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 19, dadurch gekennzeichnet,
daß in regelmäßigen Abständen zwischen den Elektronikeinheiten (8) vertikal ausgerichtete Zug- streben bzw. Zugplatten (46) angeordnet sind, die die Kontaktplatte (1) mit der Grundplatte (41) derart verbinden, daß sie eine zwischen den Platten (1, 41) auftretende Zugspannung aufnehmen können.
21. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 20, dadurch gekennzeichnet,
daß die auf der Prüfseite der Kontaktplatte (1) angeordneten Kontaktelemente (2) in Reihen (30) und Spalten (31) angeordnet sind, wobei in einem Bereich der Kontaktplatte die Reihen (30) bzw. die Spalten (31) abwechselnd an eine von zwei Elek- tronikeinheiten (8) angeschlossen sind.
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