• Keine Ergebnisse gefunden

Topografische Untersuchungen mittels phasenmessender Streifenprojektion

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2022

Aktie "Topografische Untersuchungen mittels phasenmessender Streifenprojektion"

Copied!
1
0
0

Wird geladen.... (Jetzt Volltext ansehen)

Volltext

(1)

1

01. Januar 2015

Topografische Untersuchungen mittels phasenmessender Streifenprojektion

Einsatz

• Bestimmung topografischer Kennwerte von Oberflächen (Glätte, Rauhigkeit)

Methode phasenmessende Streifenprojektion, GFM MikroCAD

Messbereich vertikal: > 300 nm; lateral: 1 µm Grenzen transparente, glänzende Oberflächen Anwendungsbeispiele

• Charakterisierung von Papieroberflächen

• Bewertung von Druckprodukten

Referenzen

ÄHNLICHE DOKUMENTE

Das kann durch die Tatsache erklärt werden, daß die Digitalisier-Qualität dieser Daten sehr schlecht war und die digitalen KFA- 1 000 Daten bei weitem nicht eine mit den

Mittels Rastertunnelmikroskopie ist es aber nicht nur möglich, reine Oberflächen oder die Adsorbatstruktur von Gasen zu untersuchen, sondern es sind auch

The coarse nodalization leads to different results in spite of preserving total hydraulic losses The variation of S LAM in the range of the experimental uncertainty sligthly affects

In der vorliegenden Diplomarbeit wurde untersucht, wie sich die Beschaffenheit der Ober- fl¨ ache eines Silizium-Wafers ¨ andert, wenn sie mit (CO 2 ) + N -Clusterionen, die

Messbereich flächige oder bahnförmige Materialien Grenzen stark saugfähige und raue Oberflächen Anwendungsbeispiele. • Beurteilung der Benetzbarkeit von Papier und Karton

Messbereich vertikal: > 50 nm; lateral: 1 µm Grenzen transparente, glänzende

Messbereich Tropfen 20 µm, 60 µm und 100 µm Vergrößerung 10 bis 1000 fach Grenzen raue

Messbereich 10 nm bis 100 µm Porenradius Grenzen Metalle, die Hg-Legierungen bilden. Mikroporen < 10