5.5 Abstandsabhängige Messungen
5.5.2 Spektroskopische Untersuchungen
Probe
z f
0
f min
z min
Abbildung 5.15: Prinzipielle
Form einer f(z)-Kurve. Wenn
als Sollwert der F
requenzver-schiebung einkleinererWertals
f
min
eingestelltwird,fährtder
Feedback die Spitze in die
Pro-be,daderSollwertnichterreicht
werden kann.
Systems. In Abb. 5.15 erkennt man, was dann passiert: Bei Unterschreitung
des Abstandes z
min
ändertsichdas Vorzeichen der Steigungder f(z)-Kurve.
Da die Polarität des Feedbacks konstant bleibt, fährt dieser die Spitze in die
Probe.
Auf-a)
1,0 nm
b)
1,0 nm
c)
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0
-15 -10 -5 0 5 10
Höhe [pm]
<100>-Richtung [nm]
d)
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0
-15 -10 -5 0 5 10
Höhe [pm]
<100>-Richtung [nm]
Abbildung 5.16: a) undb) Topographiebilder vor und nach Aufnahme des
Spek-troskopiefeldes. Aufnahmeparameter:T =14,9K, f
0
=195 kHz,f =-32,2 Hz,A
=7,3nm, 4;910 15
N p
m.c) undd)QuerschnittsprolederBilder a) und
b) entlang derroten Linien.
den f(z)-Kurven. Dies beweist, dass kein Spitzenwechsel stattgefunden hat.
Zwischen den Bildern vor und nach der Spektroskopie ist fast keine laterale
Drift zu erkennen, jedoch hat die atomare Korrugation abgenommen, obwohl
beide Bilderbeider gleichenFrequenzverschiebung f =-32,2 Hz
aufgenom-menwurden.DieFrequenzverschiebung von-32,2Hzwarauchder Regelpunkt
für jedeeinzelne Spektroskopiekurve. Von diesemPunkt aus wurdedieSpitze
9,80 nm zuzückgezogen und dann eine Spektroskopiekurve (Trace & Retrace)
von9,93nmLängegefahren,alsonochetwasdichterandieProbealsder
Stabi-lisationspunktliegt.Nebendenf-WertenistzusätzlichnochdieTopographie
und das Dissipationssignal mitaufgezeichnet worden.
Der Topographiekanal enthält die linearen Spannungsrampen, mit denen
die Spitze gefahren wurde. Diese Spannungsrampen sind aber um die
Wer-te beimStabilisationspunkt gegeneinander verschoben. Da der
Stabilisations-punkt bei f = -32,2 Hz gesetzt wurde, also einem Wert, bei dem atomare
atomare Auösung erkennbar sein. Jedoch istdies nicht der Fall.Im
Wesent-lichen sieht man in den Bildern einen Intensitätsgradienten von 12,0 nm, der
gut mitdem Aufnahmezeitpunktder jeweiligenSpektroskopiekurvekorreliert.
DieUrsachehierfüristnebeneinemindemxy-BildvorderSpektroskopie
ge-messenentatsächlichenIntensitätsgradientenvon0,4nmundleichter
thermi-scher Drift vorallen Dingen einLeckstrom inder Sample-and-Hold-Schaltung
des Feedbacks, alsonur eine elektronische Drift des gemessenen Signals.Wird
dieseDriftdurcheinengeeignetenFitvomBildsubtrahiert,zeigtsichnurnoch
Rauschen, weswegen das Bild hier nicht dargestellt ist.
Im folgenden werdendief-Werte analysiert.In dem Layer, der den
glei-chen Spitze-Probe-Abstand wie der Stabilisationspunkt hat, sollte kein
Kon-trasterkennbarsein,daindiesemLayeralleSpektroskopiekurvendenWertf
= -32,2 Hz haben. Natürlich stimmendie gemessenen Werte nicht exakt, um
aberquantitativeAussagen treen zu können, wurdefür jeden Layer der
Mit-telwert
f
aller f-Werte und dieStandardabweichung berechnet und diese
Werte überden Spitze-Probe-Abstand aufgetragen (siehe Abb. 5.17). Ausder
Abbildungwird deutlich, dass zwardieStandardabweichung mitAnnäherung
andieProbezunimmt,esabereinlokalesMinimumgibtund diesesMinimum
liegtbeidenTrace-KurvenexaktindemLayer,derdemSpitze-Probe-Abstand
im Stabilisationspunkt entspricht. Die generelle Zunahme von
f
mit
Annä-herungandieOberächeistdadurchzuerklären,dassesnatürlichstatistische
Schwankungen des Spitze-Probe-Abstandes gibt und die sich daraus
ergeben-den Schwankungen inf beikleinen Abständengröÿer sind,wie mananhand
der f(z)-Kurve soforterkennt.
Beim Betrachten der f(z)-Kurven in Abb. 5.17 fällt weiter auf, dass die
Retrace-Kurven zu deutlich niedrigeren f-Werten gehen.Dies ist nur durch
einengeringeren Spitze-Probe-Abstand zu erklärenund tatsächlichlassen sich
sowohl die f(z)-Kurven alsauchdie Standardabweichungen durch eine
Ver-schiebung um 0,18 nm entlang der z-Achse zur Deckung bringen. Für diese
Hysterese zwischen den Trace- und den Retrace-Kurven gibt es drei
Erklä-rungen: Erstens führt der schon erwähnte Kriecheekt im Piezomaterial zu
einer leichten Hysterese, dienurdurch sehr langsames Fahrender
Spannungs-rampen vermieden werden kann. Zweitens war während dieser Messung die
Zeitkonstantedes Amplitudenreglersrelativniedrigeingestellt. Diesführt,wie
sich später herausstellte, ebenfalls zu leichten Hysterese-Eekten. Der dritte
und bedeutendste Grund war eine zum Zeitpunkt dieser Messung noch
vor-handene Hysterese in der Spannungsrampe, mit der die Spitze an die Probe
gefahren wurde. Diese elektrische Hysterese sieht man im Topographiesignal
(alsoderamScanneranliegendenSpannung),dasichjagleichzeitigmit
gespei-chert habe.InAbb. 5.18istdiegemessenegegendieangelegte
Spannungsram-pe aufgetragen.Die elektronische Hysterese indieserMessung betrug0,12 nm
undmachtsomitden gröÿtenTeilder gesamtenHystereseaus.DiesesProblem
0 2 4 6 8 10 -50
-40 -30 -20 -10 0
ssss DDDD f [H z]
DDDD f [H z]
z [nm]
f (Trace) f (Retr.)
0 1 2 3 4 5
D f (Trace) D f (Retr.)
Abbildung5.17:f(z)-Kurve aufNiO.DieKurve entstand durchMittelungüber
1024f(z)-KurveneinesSpektroskopiefeldes.WeiterhinistdieStandardabweichung
vomMittelwertaufgetragen.DieRetrace-Kurvenscheinenzukleineren
Spitze-Probe-Abständen zu reichen. Tatsächlich sind dieTrace- und Retrace-Kurven um0,18 nm
gegeneinander verschoben.
dendieSpannungsrampeläuftundwurdedurchÄnderung der Zeitkonstanten
behoben.
Da die kleinsten Spitze-Probe-Abstände bei den Trace und den
Retrace-Kurven oensichtlich unterschiedlich sind, wurden die untersten Layer des
f(z)-Feldes genauer betrachtet. Während in den Trace-Bildern nur
Rau-schen zu erkennen ist, zeigen die Retrace-Bilder eine deutliche Struktur, die
mit den Atompositionen korreliert ist. In Abb. 5.19 sind die untersten Layer
abgebildet.Die gezeigtenStrukturen können jedochnicht direktmiteinzelnen
Atomen identiziert werden. Es sind vielmehr diagonale Linien zu erkennen,
die ungefähr entlang der Maxima im Topographiebild laufen und einen
Hell-Dunkel-Kontrast von 10Hz haben. Im oberen Viertel des Bildesist
zusätz-lich ein seitlicher Versatz zu sehen. Ich vermute, dass die Übereinstimmung
der Atompositionenvor und nach dem Spektroskopiefeld zufällig istund
tat-sächlichwährend der Spektroskopie eine lateraleDrift in diagonaler Richtung
stattgefunden hat. Diese Annahme wird untermauert durch die in Abschnitt
5.5.3 dargestellte Messung,beider eine ähnlichgroÿe laterale Drift auftritt.
Im folgendensolleneinzelne Spektroskopiekurven imzeitlichen Verlauf
be-trachtet werden.ExemplarischwerdenhierfürinAbb. 5.20drei einzelne
Spek-troskopiekurven dargestellt. Es handeltsich um dieKurve links unten, in der
0 2 4 6 8 10 0
2 4 6 8 10 12
z (gem essen) [nm ]
z (Spannungsrampe) [nm]
Trace Retrace
9,0 9,2 9,4 9,6 9,8
9,4 9,6 9,8 10,0 10,2 -0,2 -0,1 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 10,4 0,2
0,4 0,6 0,8 1,0
Abbildung 5.18: An den Scanner angelegte Spannungsrampe für das Fahren der
f(z)-Kurve.Deutlich isteine Hysteresezu erkennen, dieetwa 0,12 nmausmacht.
ten nach oben, unten links beginnend, aufgenommen worden sind, haben wir
die erste Kurve, diemittlere und die letzte des Datensatzes. Im Graphen
zei-gen dieKurven dieschon bekannteHysterese auf der z-Achse, aber zusätzlich
ist noch eine Drift auf der f-Achse vorhanden. Während der 1h 20 min ist
die gemessene Frequenzverschiebung um 1,5 Hz kleiner geworden. Die
Ursa-chen dieser Frequenzverschiebung werden im Kapitel 5.5.3 erörtert. Die
Ver-ringerung der Resonanzfrequenz erklärt jedoch die geringere Korrugation auf
dem Kontrollbild nach der Spektroskopiefeldaufnahme. Für die Berechnung
der Spitze-Probe-KraftF
int
istdiese Drift jedochunerheblich, dasieals
nahe-zu konstanter Oset bei der Dierentiation gemäÿ Gl.4.5wegfällt.
Rekonstruktion des Wechselwirkungspotentials
Anhand der in Abb. 5.19 dargestellten Bilder lässt sich unabhängig davon,
oblateraleDriftstattgefundenhatodernichtbestimmen,welche
Spektrosko-piekurven übereinemMaximum undwelche übereinemMinimum
aufgezeich-net wurden. In dem Layer-254-Bild sind fünf Minima (rot) und fünf Maxima
(blau) gekennzeichnet. An diesen Punkten werden die Spektroskopiekurven
weiter ausgewertet.Da alleMesspunkte aus zwei benachbartenZeilen(13 und
14) stammen unddieZeitzur Aufnahmedieser Kurven wenigerals5Minuten
Layer 252 Layer 252 a)
Layer 253 Layer 253 b)
Layer 254 Layer 254 c)
Layer 255 Layer 255
d) e)
0 -9,3 -18,7 -28
[Hz]
Abbildung 5.19:a) bisd)Ausden Retrace f(z)-Kurven sind dieunterstenvier
Layerdargestellt. VonlinksnachrechtsLayer252bis255.DeutlichisteineStruktur
zu erkennen, diemit den Atompositionen korreliert. Diediagonalen Linien kommen
wahrscheinlich durch laterale Driftentlangdieser Richtung zustande.Die Bildgröÿe
istjeweils1nm1nm.IndemLayer-254-BildsinddiePositionen eingezeichnet,an
denen die Spektroskopiekurven weiter ausgewertet wurden (siehe Abschnitt 5.5.2).
e)relative Farbskala, diefür dieAbbildungena) bisd) gilt.
0 2 4 6 8 10
-60 -50 -40 -30 -20 -10 0
DDDD f [H z]
z [nm]
1024. Spektr. T 1024. Spektr. R 512. Spektr. T 512. Spektr. R 1. Spektr. T 1. Spektr. R
9.0 9.2 9.4 9.6 9.8 10.0 -5.0
-4.5 -4.0 -3.5 -3.0 -2.5
-0.2 -0.1 0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 -30
-20
Abbildung 5.20: f
(z)-Kurven im zeitlichen
Ver-lauf. Dargestellt ist die
er-ste, die 512. und die 1024.
Kurve des Datensatzes aus
1024 Kurven. Neben der
Verschiebung um 0,18 nm
in z-Richtung ist auch eine
Verschiebung auf der f
-Achse zu erkennen, die mit
derZeit derMessung
korre-liertist.
Verdeutlichungsind inAbb. 5.21a)dieerstef(z)-KurveausZeile13unddie
letztef(z)-KurveausZeile14eingezeichnet. Sieliegenfastexakt
übereinan-der. Die Abbildung enthält weiterhinexemplarisch zwei der 10 ausgewerteten
Spektroskopiekurven, eine Minimum- und eine Maximum-Kurve. Die beiden
Kurven liegen ebenfalls übereinander, mit Ausnahme eines kleinen Bereiches
von 0,3nm bei geringstem Spitze-Probe-Abstand. Um Fehler aufgrund der
Hysterese in der Spannungsrampe zu vermeiden, wurde der Datenpunkt bei
kleinstem Spitze-Probe-Abstand weggelassen (vergl. dazu auch den Inset der
Abb. 5.18). Die z-Achse wurdeso gelegt, dass der Punkt z =0dem kleinsten
Spitze-Probe-Abstand der Messung entspricht.
Durch Benutzung der Methode von Dürig (Gl.4.5) [43] in einer
Software-ImplementierungvonHölscher[44]lässtsichausdenf(z)-Kurvendas
Spitze-Probe-Potentialund durch anschlieÿende DierentiationdieKraft F
int
gewin-nen. Dieses Verfahren wurde auf die Kurven angewandt. Das Ergebnis ist in
Abb. 5.21b) für die zwei Kurven aus Abb. 5.21a) und in Abb. 5.22 für alle
Kurven aus Zeile 14dargestellt.
Da ichAussagenüberdiekurzreichweitigenKräftegewinnen möchte, habe
ichfolgendesVerfahrenaufalleKurvenangewandt[85] [86][88]: Zuerstwurde
eineanalytische Beschreibungaller langreichweitigenKräfteF
long
gesucht.Ein
gut passender Ausdruck ist:
F
long
= k
z z
o
: (5.1)
Gemäÿ Gl. 2.3 und 2.4 beschreibt dies sowohl die van-der-Waals-Kraft einer
konischen oder pyramidalen Spitze als auch die elektrostatische Kraft einer
sphärischen Spitze [89]. Beide Modelle sind plausibel für den benutzten
Can-tilever. Die Parameter k und z
long
wurden nach der Methode der kleinsten
Quadrate in dem Bereich von z=1...10 nm vom Punkt dichtester
Annähe-rung andieMessdaten angepasst (engl.: t). DerStartpunkt von1nm wurde
gewählt,dasowohlder kurzreichweitige,alsauchderfolgendelangreichweitige
Fit (siehefolgenden Absatz)gut passen. Die erhaltenenWertesind inTabelle
5.3zusammengefasst.DerMittelwertz
o
0,62nmkannalsder
Spitze-Probe-Abstand der makroskopischen Spitze beiz =0 interpretiert werden. Für jede
Kurve wurde die langreichweitige Kraft F
long
(z) von der Spektroskopiekurve
F
int
(z) abgezogen, inklusive des Bereiches von z=0...1 nm. Die
resultieren-de kurzreichweitige chemische Kraft F
chem
= F
int F
long
ist in Abb. 5.21c)
dargestellt.
Die chemischen Kräfte können durch ein Morse-Potential gemäÿ Gl. 2.10
beschrieben werden. Durch einen Fit der Kraftandie Messwerte erhalten wir
die Parameter des Morse-Potentials. Die Werte sind ebenfalls in Tabelle 5.3
zusammengefasst. Die errechneten Mittelwerte sind U
0;min
= 0:99 eV,
min
=
1:47Å,z = 0:73ÅübereinematomarenMinimumundU =1:37eV,
a)
0 2 4 6 8 10
-60 -50 -40 -30 -20 -10 0
Atomares Maximum Atomares Minimum 1. Kurve in Zeile 13 32. Kurve in Zeile 14
D f [Hz]
z [nm]
0.0 0.2 0.4 0.6
-50 -40 -30
-20 0,3 nm
b)
ÿ ÿ
ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ
ÿ ÿ ÿ ÿ
ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ
c)
0 2 4 6 8 10
-1.0 -0.8 -0.6 -0.4 -0.2 0.0
Morse-Fit über Maximum Morse-Fit über Minimum
F chem [nN]
z [nm]
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 -1.0
-0.8 -0.6 -0.4 -0.2 0.0
Abbildung 5.21: Zwei
Spektro-skopiekurven,dieübereinem
ato-maren Maximum (Spitze oben,
blau) und einem Minimum
(Spit-zerunter,rot)aufgenommen
wur-den. Der Punkt dichtester
An-näherungdeniertden Nullpunkt
der z-Achse. a) f(z)-Kurven,
aufgenommen bei einer
Schwin-gungsamplitudeA=7;3nm.Der
atomare Kontrast zeigt sich auf
den letzten 0,3 nm der
Spektro-skopiekurve.Zusätzlichist die
er-ste Kurve der Zeile 13 und die
letzte Kurve der Zeile 14
auf-getragen um zu verdeutlichen,
dass Drifteekte innerhalb
die-ser beiden Zeilen
vernachlässig-bar sind. b) Die entsprechenden
Spitze-Probe-Kräfte F
int
wurden
aus den in a) gezeichneten
Kur-ven bestimmt. Die
langreichwei-tigen Kräfte wurden im Bereich
1...10nmmiteineminversen
Po-tenzgesetzz 1
gettet
(gestrichel-te Kurve). c) Durch
Subtrakti-on der langreichweitigen Kräfte
erhält man die kurzreichweitigen
Kräfte F
chem
. Ein Fit mit der
KrafteinesMorsepotentialsistfür
die Maximum- (blaue Linie) und
die Minimum-Position (rote
Li-nie) gezeigt.
-0.1 nN
-1.0 nN
1.0 nm
0.35 nm
Abbildung 5.22: Aus den f
(z)-Kurven wurdedaskomplette
dreidi-mensionale Kraftfeld rekonstruiert.
Die Abbildung zeigt einen Schnitt
durchdasFeldentlangZeile14(en
t-spricht ungefähr der [001]-Richtung
des Kristalls).Die Skalierung inx
und z Richtung istunterschiedlich.
Position langreichweitigerFit kurzreichweitigerFit
X Y k z
o
U
0
z
0
[eV] [nm] [eV] [nm] [nm]
10 13 -0.852 -0.659 1.025 0.159 -0.099 M
10 14 -0.864 -0.631 1.102 0.151 -0.090 i
11 14 -0.855 -0.599 0.867 0.140 -0.048 n
22 13 -0.849 -0.615 0.860 0.140 -0.046 i
23 14 -0.862 -0.602 1.100 0.146 -0.082 m
mean
min
-0.857 -0.621 0.991 0.147 -0.073 u
st.dev
min
0.007 0.025 0.120 0.008 0.024 m
4 13 -0.830 -0.589 1.346 0.115 -0.051 M
5 13 -0.836 -0.610 1.484 0.121 -0.072 a
17 13 -0.864 -0.633 1.482 0.121 -0.056 x
18 14 -0.852 -0.599 1.337 0.115 -0.046 i
28 14 -0.855 -0.628 1.197 0.108 -0.019 m
mean
max
-0.847 -0.612 1.369 0.116 -0.049 u
st.dev
max
0.014 0.019 0.120 0.005 0.019 m
Tabelle 5.3: Die Tabelle enthält die berechneten Parameter für die ausgewerteten
Spektroskopiekurven. Die oberen fünf Messpunkte sind über einem atomaren
Mi-nimum, die unteren fünf Messpunkte über einem Maximum aufgenommen worden.
Die Kurven, bei denen der X-Index nur um 1 verschieden ist, gehören zum
glei-chenAtom, alsoz.B.dieersten dreiWerte.Die darauolgendenWertegehörenzum
direkten Nachbaratom. Die Mittelwerte für den langreichweitigen Fit, sowie derz
0
-Parameterfür den kurzreichweitigen Fit sindinnerhalbderFehlergrenzen identisch,
wohingegenU
0
unddeutlichunterschiedlichfürdieverschiedenenGitterplätzesind.
max
=1:16 Å, z
0;max
= 0:49 Å über einem atomaren Maximum, wobei der
kleine Unterschied in den z
0
-Werteninnerhalb des statistischen Fehlers liegt.
Essollteerwähntwerden,dassder systematischeFehlerdeutlichgröÿerist.
Der gröÿte Fehler kommt durch die ungenaue Kenntnis der Federkonstante
(8%), welche sich direkt auf die errechnete Kraft auswirkt. Kleiner, aber
signikant,sind FehlerinderBestimmungder Schwingungsamplitudeund der
z-Skala der Spektroskopiekurven. Diese Fehler wirken sich sogar stärker als
linear auf die Kraft aus. Die Werte für U
0
und hängen ebenfalls von dem
Minimalabstand ab, bei dem der langreichweitige Fit begonnen wurde.
Ver-suchsweise wurden verschiedene Abständevon0,5 ...1,5 nm benutzt. Obwohl
die Fits nicht so gut passten, wurden die U
0
und Werte berechnet. Sie
wei-chen vonden genannten Werten um biszu 30%ab. Zusammenfassend istder
Fehler für U
0
und ebenfallsmit30% anzunehmen.
Die Unterschiede in den z
o
und z
0
Werten kommen durch die
mikro-skopische Form des Spitzenapex und die Denition dieser Werte zustande.
Der langreichweitige Fit basiertauf einer speziellenmakroskopischen
Spitzen-form (unabhängig von der atomaren Struktur des Spitzenapex), wohingegen
der kurzreichweitige Morse-Fit die Wechselwirkung zwischen dem vordersten
Spitzenatom und der Probe beschreibt. Weiterhin stellt z
o
den Abstand der
starren Spitze dar, während z
0
der negative Abstand des vordersten
Spitze-natoms zum Gleichgewichtsabstand ist. Für die Materialkombination Fe/Ni
wird ein Gleichgewichtsabstand von z
Fe=Ni
2.4Å berichtet [90]. Der
tat-sächliche Spitze-Probe-Abstand amPunkt dichtester Annäherungsolltedaher
z
Fe=Ni z
0
3Å sein.
Um dieFrage zu klären, ob spinabhängige Austauschkräfte eine Rollebei
dieserMessunggespielthaben, habeichdieerrechneten Parametersowohlvon
benachbartenMinimaalsauchvonbenachbartenMaximaverglichen.Wieman
inTabelle5.3siehtundwieichbeiderAuswertungvielerweitererKurven
fest-gestellt habe,gibt es keine systematischen Unterschiede. Folglichsind die
Ef-fektezuklein,umsiemitdemaktuellenAufbaumessenzukönnen,obwohlfür
einen Spitze-Probe-Abstand von3Å einmessbarer Eekt vorhergesagtwurde
[57, 58].
Rekonstruierte Spektroskopiefelder
Derkritischste Parameterbeidenimvorigen Abschnittvorgestellten
Spektro-skopiefeldern stellt der Punkt dichtester Annäherung an die Oberäche dar.
Der Abstand ist nur schwer kontrollierbar und schon geringste
Unterschrei-tungen eines Minimalabstandes können zum Spitzenwechsel führen. Der im
vorigenAbschnitt dargestellte Datensatzwardaher auch der einzige,beidem
esvorundnachderAufnahmeeinesSpektroskopiefeldesmöglichwar,atomare
Auösung zu erzielen. Aus diesem Grunde bin ich dazu übergegangen,
gere-darausdief(z)-Kurven zu rekonstruieren.Fürdiese Messungwurde ein
Be-reich auf der Oberäche herausgesucht, der zusätzlich ein Adsorbat enthielt.
Auf diese Weise lässt sich laterale Drift besser verfolgen und nachträglich
au-tomatischkorrigieren [91].DerDatensatzbestehtaus 25geregeltenxy-Bildern
wobei f systematisch von -2 Hz bis -22,5 Hz geändert wurde. Beim
darauf-folgenden Bild mit f = -23 Hz kam es zum Spitzenwechsel mit Verlust der
atomaren Auösung. Die Aufnahmedauer aller 25 Bilder betrug 75 Minuten.
Zur Veranschaulichung istinAbb.5.23 jedes zweiteTopographiebildderSerie
dargestellt. Mit negativeren Frequenzverschiebungen steigt die atomare
Kor-rugation. Während in den ersten Bildern noch kein Kontrast erkennbar ist,
beträgt dieKorrugation in<100>-Richtung beidem letztenBild der Serie 44
pm.
Aus den xy-Bildern lassen sich Spektroskopiekurven an spezischen
Or-ten extrahieren.Anhandder Atompositionenerkennt manjedocheine laterale
Driftvon0,3nm überdie gesamteAufnahmedauer.ZurRekonstruktion der
f(z)-Kurven wurde daher für drei verschiedene Plätze (auf dem Adsorbat,
übereinematomarenMaximumundübereinematomarenMinimum)injedem
Bild einzeln der gleiche Probenort herausgesucht und der f-Wert an dieser
Stellebenutzt. Diesogewonnenen Spektroskopiekurven sindinAbb. 5.24
dar-gestellt. Obwohl diese Kurven natürlich leicht unterschiedlich sind und somit
einenatomaren Kontrastzeigen,sindsieaufgrundebenfallsvorhandenerDrift
in z-Richtung von 1nm nichtzur direktenAuswertung verwendbar.