Herbert Bernstein
Oszilloskope
und Analysatoren
Grundlagen und Messaufbauten mit Multisim
Elektor Verlag GmbH
Inhalt
1 Analoges Oszilloskop 9
1.1 Funktionsbeschreibung 10
1.1.1 Analoges und digitales Oszilloskop 12
1.1.2 Aufbau einesanalogen Oszilloskops 16
1.1.3 Horizontale Zeitablenkung und X-Verstärker 22
1.1.4 Triggerung 25
1.1.5 Y-EingangskanalmitVerstärker 28
1.1.6 Oszilloskopeinstellungen 30
1.2 Grundversuche . 34
1.2.1 Untersuchung des Y-Kanals 34
1.2.2 Messung von Gleichstrom 35
1.2.3 Messung von Wechselspannung 36
1.2.4 X- und Y-Ablenkung mitSinusspannung 38
1.2.5 Strom-Spannungs-Kennlinieeines Widerstands 38
1.2.6 Strom-Spannungs-Kennlinie einer Diode 39
1.2.7Strom-Spannungs-Kennlinie einer Z-Diode 44
1.2.8 Strom-Spannungs-Kennlinieeines DIAC 46
1.3 Tastkopf 48
1.3.1 Frequenzkompensierter
Spannungsteiler
imTastkopf 491.3.2 Kapazitätsarmer Tastkopf 52
1.3.3 Inbetriebnahme desOszilloskops 54
1.3.4 Zweikanaloszilloskop 58
1.4 Praktische Handhabung einesOszilloskops 60
1.4.1 Einstellen der Empfindlichkeit 61
1.4.2 Anschluss eines Oszilloskops aneine Messschaltung 65
1.4.3 Triggerverhaltenan einerMessschaltung 70
1.5 Messungen mitOszilloskop 75
1.5.1 Messung einerDreieckspannung 76
1.5.2 Messung einer Rechteckspannung 77
1.5.3 Messung einerAM-Spannungsquelle 79
1.5.4 Messung einer FM-Spannungsquelle 81
2 Messpraktikum füranalogeZwei- undVierkanal-Oszilloskope 85
2.1 Messungen von unsymmetrischen Spannungen 86
2.1.1 Addition von Spannungen verschiedenerFrequenzen 87 2.1.2 Add.von Spannungen verschiedener Frequenz und Phasenversch 87 2.1.3 Addition dreier Spannungen verschiedener Frequenz 88
2.1.4 Messung einerSchwebung 89
2.1.5 Lissajous-Figuren zur Frequenzmessung 90
2.1.6 Lissajous-Figurzur Phasenmessung 93
2.1.7 Phasenmessung mit Lissajous-Figur 95
2.2 Messungen an Reihenschaltungen 96
2.2.1 Messungen an einem RC-Glied 96
2.2.2 Messungen aneinem RL-Glied 97
2.2.3 Messungen aneinem RCL-Glied 99
2.2.4 Messung der kapazitiven Blindleistung 101
2.2.5 Messung der induktiven Blindleistung 102
3 Arbeiten und Messen mit demdigitalen Speicheroszilloskop 103
3.1 Merkmale eines digitalen Oszilloskops 103
3.1.1 Interne Funktionseinheiten 103
3.1.2 Analog-Digital-Wandler 105
3.1.3 Zeitbasis und horizontale Auflösung 106
3.1.4 Möglichkeiten des Abtastbetriebs 110
3.1.5 Speicherung von Signalinformationen 114
3.2 Funktionenund Bedienelemente 117
3.2.1 Parametereinstellungen 117
3.2.2 Triggerfunktionen 119
3.2.3 Spezielle Triggerfunktionen 123
3.2.4 Triggermethoden für Störimpulse 126
3.2.5 Auswertung von
Messsignalen
1283.2.6 Digitale Filterung 131
3.2.7 Verarbeitungvon
Messsignalen
1343.2.8 Spezialfunktioneneinesdigitalen Speicheroszilloskops 136 3.2.9 Automatische Messung mitderCursorsteuerung 139
3.2.10 Arbeiten mit dem Messcursor 142
3.3 Analysemethoden 146
3.3.1
Analysiermethoden
1483.3.2 Simulation undAnalyse 149
3.3.3 AC-Frequenzanalyse 149
3.3.4Zeitbereichs-Transientenanalyse 152
3.3.5 Fourier-Analyse 154
3.3.6 Rausch- undRauschzahlanalyse 159
3.3.7 Verzerrungsanalyse 164
3.3.8
Empfindlichkeitsanalyse
1683.3.9 Monte-Carlo-Analyse 170
3.3.10 Worst-Case-Analyse (ungünstige Bedingungen) 172
3.4 Messung von Bitfehlern 174
3.4.1 Definition der Bitfehlerrate (BER) 175
3.4.2 Messtechnische Erfassung der Bitfehlerrate 176
3.4.3 BER-Messung auf digitalerBasis 178
3.4.4 BER-Messungauf analogerBasis
(Augendiagramm)
1793.4.5 Bitfehlerdarstellung imSignalzustandsdiagramm 181
3.5 Oszilloskop mit LCD-Flachbildschirm 182
3.5.1 Technologieder LCD-Flachbildschirme 183
3.5.2 Prinzipderverschiedenen Panels 184
3.5.3 Optimierungen der LCD-Technologie 188
3.5.4 Bildauflösung 189
3.5.5 Oszilloskop mit LCD-Bildschirm 190
4 Logikanalysator 199
4.1 Hardwareentwicklung mit Logikanalysator 199
4.1.1 Anschluss eines Logikanalysators 201
4.1.2 Speicherdes Logikanalysators 204
4.1.3 Referenzspeichereines Logikanalysators 208
4.2 Anwendungen des simulierten Logikanalysators 209
4.2.1 Logikanalysatorund Bitmustergenerator 210
4.2.2 Simulierter Bitmustergenerator 212
4.2.3 Simulierter Logikanalysator 213
4.2.4 Untersuchung des Dezimalzählers 74290 215
4.2.5 Untersuchung desSchieberegisters 74164 217
4.2.6 Elektronische Weiche 218
4.2.7 BCD-zu-Dezimal-Decoder/Anzeigentreiber 74145 218
4.2.8 CMOS-Zähler 4024
(7-stufiger
Binärzähler) 2204.2.9 CMOS-Zähler 4510
(programmierbarer
BCD-Zähler) 2214.2.10 Integriertes
Monoflop
74121 2224.2.11 Integriertes retriggerbares Monoflop 74123 224
4.2.12 Verzögerungen von Impulsflanken durch ein Monoflop 225
4.2.13 Untersuchungeines8-Bit-DA-Wandlers 227
4.2.14 Untersuchung eines 8-Bit-AD-Wandlers 230
5 Bode-Plotter 233
5.1 Arbeiten mit dem Bode-Plotter 234
5.2 Präzisions-Funktionsgenerator MAX038 237
5.2.1 Blockschaltung des FunktionsgeneratorsMAX038 237
5.2.2 Funktionsgeneratormit dem MAX038 240
5.2.3 Wobbier mit dem MAX038 243
5.3
Anwendungsbeispiele
für einen Bode-Plotter 2465.3.1 Verhalten eines passiven RC-Hochpassfilters 246
5.3.2 Verhalten eines Reihenschwingkreises 247
5.3.3 Verhalten einesParallelschwingkreises 249
5.3.4 Untersuchung eines LC-Filters 252
5.3.5 Untersuchung eines T- und n-Filters 253
5.3.6 Untersuchung eines Tiefpass-Doppelsiebgliedes 255
5.3.7 Untersuchung eines LC-Bandpasses 257
5.3.8 Untersuchung einer LC-Bandsperre 258
5.4 Aktive Filterschaltungen 259
5.4.1 AktiverTiefpass 1. Ordnung 261
5.4.2 AktiverHochpass 1.Ordnung 264
5.4.3 Aktive Tiefpassfilter 2.Ordnung mit Zweifachgegenkopplung 265 5.4.4 AktiveTiefpassfilter2. Ordnung mit Einfachmitkopplung 268
5.4.5 Aktives
Hochpassfilter 2.Ordnung
2695.4.6 Umwandlung von Tiefpass- in Hochpassfilter 271
5.5 Aktive Bandpass- und
Bandsperrfilter
2735.5.1 Selektiver VerstärkermitSchwingkreis 273
5.5.2 Selektives Filter2.OrdnunginGegenkopplung 274 5.5.3 Selektives Filter2.Ordnungin Mitkopplung 275
5.5.4 Aktive Bandsperre mit T-Filter 276
6Spektrumanalysator 279
6.1 Grundlagen eines Spektrumanalysators 279
6.1.1 Aufbau eines Spektrumanalysators 281
6.1.2 Eigenschaftenvon Spektrumanalysatoren 283
6.1.3 FormfaktorderZwischenfrequenzfilter 285
6.1.4 Einseitenband-Phasenrauschen 286
6.1.5 Amplituden- und Frequenzmodulation 287
6.2 Arbeiten mit Dezibel 289
6.2.1 Logarithmische Bezugsgröße 291
6.2.2 Dämpfung undVerstärkung 294
6.2.3 Messungvon
Rauschsignalen
2986.2.4 Addition von Spannungen 300
6.2.5 Spitzenspannung 302
6.3 Anwendungen derdB-Messungen 302
6.3.1 S/N-Signal-Rauschabstand 302
6.3.2 Frequenzverhältnis und Amplituden 305
6.3.3 Verzerrungen und Klirrfaktor 308
6.3.4 Rauschen 310
6.3.5 Mittelwertbildung von Rauschsignalen 312
6.3.6 Rauschzahl und Rauschmaß 312
6.3.7 Phasenrauschen 312
6.3.8 S-Parameter 314
6.3.9 VSWR-Wert und Reflexionsfaktor 314
6.3.10 Feldstärke 315
6.3.11 Antennengewinn 316
6.3.12 Crestfaktor. . 316
6.3.13 Kanal- und Nachbarkanalleistung 317
6.3.14 Dynamikumfang von AD- und DA-Wandlern 318
6.3.15 Skalenendwert dB (FS) 320
6.3.16 Schalldruckpegel 320
7 Netzwerkanalysator 323
7.1 Aufbau eines Netzwerkanalysators 328
7.1.1 Systematische Fehler des Netzwerkanalysators 330
7.1.2 Kalibrierung und Systemfehlerkorrektur 332
7.2 Smith-Diagramm und Ortskurven 335
7.2.1 Maßstab und Normierungim Smith-Kreisdiagramm 338
7.2.2 KomplexeWiderstände 339
7.2.3 Grafische Methode für die Umwandlung von komplexen
Widerständen 342
7.2.4 Grafische Methode für die Umwandlung einerRC-Reihenschaltung
in eineRC-Parallelschaltung 344
7.2.5 Grafische Methode für die Umwandlung einerRC-Parallelschaltung
in eineRC-Reihenschaltung 345
7.2.6 Grafische Transformation (Smith-Kreisdiagramm)einer
RL-Parallelschaltung in eine RL-Reihenschaltung 346 7.2.7 Grafische Transformation (Smith-Kreisdiagramm)einer
RL-Reihenschaltungin eine RL-Parallelschaltung 347 7.2.8 Grafische Transformation einer RC-Parallelschaltung in eine
RC-Reihenschaltung
3487.2.9 Grafische Transformation einerRC-Reihenschaltung in eine
RC-Parallelschaltung
3497.2.10 Grafische Darstellung derParallelschaltungmit Blindwiderstand
bei veränderbaren Frequenzen 350
7.2.11 GrafischeDarstellung derRL-Parallelschaltung mitveränderbarem
Wirkwiderstand bei konstanterFrequenz 352
7.2.12 GrafischeDarstellung derReihenschaltungmit Blindwiderstand
und veränderbarer Frequenz 353
7.2.13 GrafischeDarstellung derReihenschaltungeines Blindwiderstands
mit veränderbarem Wirkwiderstand bei konstanterFrequenz 354
7.3 Analyseverfahren mit dem Netzwerkanalysator 354
7.3.1 S-Parameter 354
7.3.2 T-Parameter 358
7.3.3 M-Parameter 358
7.3.4 X-Parameter und S-Funktion 358
7.3.5 Reflexionsfaktor 359
7.3.6 Rückflussdämpfung 359
7.3.7 Leitungstheorie 360
7.3.8 Stehwellenverhältnis 360
7.3.9 Impedanz 363
7.3.10 Dämpfung 366
7.3.11 Gruppenlaufzeit 367
7.4 Anpassschaltung für HF-Transistoren 369
7.4.1 Anpasselemente ausn-Gliedern 370
7.4.2 Anpassschaltung für Kopplung von zwei Transistoren 376
Stichwortverzeichnis 379